日立5100N通用多功能原子力显微镜

型号：

AFM5100N

产地：

日本

AFM5100N除了激光检测方式之外，全新的「自检测悬臂」，在保证高分辨表面形貌观察的同时，大大简化了AFM悬臂操作。

·         特点

特点

1. 简便的悬臂安装

通常的悬臂是非常渺小而且很难操作，内部装有传感器的「自检测悬臂」比普通的AFM探针要大得多，容易拿取，安装非常简单方便。

2. 不用调整激光光斑的自检测方式

激光检测方式的探针需要调节激光光斑的位置，操作复杂，而采用自检测方式的「自检测悬臂」无需调节激光光斑。

3. 精确的悬臂定位

悬臂的机械结构，能够以俯视方式直接观察悬臂的位置，从而轻松调整样品的测量的位置。除此之外，更加尖锐的探针提高了分辨率。

4. 方便的操作导航系统

通过流程图形式的导航系统，任何人都可以轻松地进行高分辨表面测量。另外，通过设定样品的软硬度和凹凸系数等参数，能够简单确定测量条件。

5. 紧凑的主机

主机上包含减震台、隔音罩、光学显微镜等附件，安装紧凑，体积小巧。

6. 优越的扩展功能

通过激光检测方式，能够扩展各种各样的选配功能。另外，只要插拔一根电缆就能够切换成激光检测方式。

注：该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证，不可用于临床诊断或治疗等相关用途