电子电气半导体-测定方案_检测仪器及方法-仪器仪表网

二氧化硅样品中砷、铅、汞、铬和镉元素含量的测定原子吸收光谱法	0.06 M	2024-12-08
CMP研磨液中的添加剂混合物的测定沃特世Arc HPLC⾼效液相⾊谱系统	0.99 M	2024-03-15
半导体工业四甲基氢氧化物(TMAH)杂质的测定 NexION 5000 ICP-MS	1 M	2024-01-12
电线电缆用聚合物材料中卤素含量的测定氧弹燃烧-离子色谱法 CIC-D160+型离子色谱仪	0.7 M	2023-12-21
碳化硅材料中的铁、镁、钛、铝、钙、钠含量的测定 ICP电感耦合等离子体发射光谱仪	1.36 M	2023-11-10
半导体ZAO薄膜的光学性能测定 UV-8000型紫外-可见分光光度计	0.05 M	2023-02-23
硅片表面杂质元素含量的测定 LabMS 3000s 电感耦合等离子体质谱仪	1.03 M	2023-02-22
电子级多晶硅中基体金属杂质含量的测定 LabMS 3000s 电感耦合等离子体质谱仪	0.84 M	2023-02-22
电容元件的RoHS多溴联苯、多溴联苯醚的测定 GC-MS及热裂解方法	2 M	2023-02-14
RoHS2.0中邻苯二甲酸酯快速筛查测定 CDS Pyroprobe 6150热裂解仪+气质联用仪	1.49 M	2022-07-11
电子级硫酸中超痕量元素的测定电感耦合质谱仪NexION 5000 ICP-MS	1.01 M	2021-06-04
博为氦质谱检漏仪在电子元器件电芯电子封装密封性检测检漏的应用	192.95 K	2020-11-13
PCB电路板中常规阴离子和弱有机酸的测定与检测方案离子色谱法	0.4 M	2020-05-16
导电银胶中氯离子的检测与分析方案离子色谱法	0.5 M	2020-05-14