碳化硅材料中的铁、镁、钛、铝、钙、钠含量的测定 ICP电感耦合等离子体发射光谱仪

　　【仪器网 行业应用】碳化硅中微量元素分析主要采用原子吸收光谱法、电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-OES)法和电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)法。本文根据国家标准GB/T3045-2017中电感耦合等离子体质谱法测定的方法，经过检测条件的优化，建立了电感耦合等离子体光谱(ICP-OES)法测定碳化硅粉末中铁、镁、钛、铝、钙、钠含量的方法，可供相关人员参考。

　　PART ONE实验部分

　　仪器与试剂

　　ICP-7700型电感耦合等离子体发射光谱仪;

　　氢氟酸;

　　盐酸;

　　碳化硅样品。

　　实验条件

　　样品处理

　　称取约1.0g样品(精确至0.0001g)，放入铂皿中。用少量水湿润，加氢氟酸10mL，于电炉上蒸发至干，再加氢氟酸5mL继续蒸发至干，保持30min，取下稍冷，加(1+1)盐酸15mL，于电炉上加热15min，稍冷，用中速滤纸过滤用温热的(5+95)的盐酸洗涤铂皿及残留物8次，再用超纯水洗涤滤纸及残留物8次。滤液及洗液收集于100mL容量瓶中，冷却后稀释至刻度，摇匀，待测。

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