- 产地:
- 日本
- 型号:
- NASFA
该导航系统可以将CAD数据的布线和大规模集成电路的设计图形和FIB的观察图像相对应起来。当指定CAD系统中的坐标位置,样品台就会通过链接移动到相应位置,就可以获得相应位置的SIM图像。同时,CAD数据和SIM图像也可以重叠显示。因此,很容易检查到下层布线的状态,实质上提高了分析的效率,有利于进一步进行修理工作。
故障分析导航系统 (NASFA)由日立高新技术公司 为您提供,如您想了解更多关于故障分析导航系统 (NASFA)报价、参数等信息 ,欢迎来电或留言咨询。
















第1年
通过仪器仪表网认证 



日立大型扫描电镜SU3900
日立超高效液相色谱仪 ChromasterUl
日立ZA3700石墨炉原子吸收分光光度
日立 IM4000PLUS离子研磨仪器
日立UH5200/5210双光束紫外可见分光
日立F-2700荧光分光光度计
日立紫外分光光度计UH3900S/UH3900D
日立荧光分布成像系统EEM View
日立5300E环境多功能原子力显微镜

鲁公网安备37021402001368号