- 型号:
- SU9000
- 产地:
- 日本
日立高新超高分辨率场发射扫描电子显微镜SU9000是专门为电子束敏感样品和需最大300万倍稳定观察的先进半导体器件,高分辨成像所设计。
新的电子枪和电子光学设计提高了低加速电压性能。
0.4nm / 30kV(SE)
1.2nm / 1kV(SE)
0.34nm / 30kV(STEM)
用改良的高真空性能和无与伦比的电子束稳定性来实现高效率截面观察。
采用全新设计的Super E x B能量过滤技术,高效,灵活地收集SE / BSE/ STEM信号。
注:该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

















第1年
通过仪器仪表网认证 



热电离质谱仪(邻苯二甲酸酯检查用
Quorum 冷冻传输系统PP3010T
日立荧光分布成像系统EEM View
3D光学干涉测量系统
日立UH4150紫外可见近红外分光光度
Chromaster GPC系统
日立U-3900/3900H分光光度计
日立高新扫描电子显微镜S-3700N

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