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日立CR7300高速缺陷观测设备(Defect Review SEM)/高速缺陷检测扫描电镜(SEM)

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品牌名称
日立
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产品详情
产地:
日本
型号:
CR7300

日立CR7300高速缺陷观测设备(Defect Review SEM)是一款专为半导体晶圆缺陷分析设计的扫描电镜,集成自动缺陷检测(ADR)和分类(ADC)功能,通过高精度坐标定位自动获取、存储并分类缺陷图像,显著提升良率管理效率。其核心卖点包括高解析度SEM成像、高速ADR摄像(支持裸晶圆检测)以及人性化GUI操作界面,可选配ADC模块实现实时分类。设备支持与良率管理系统(YMS)联动,为故障分析提供数据支持,但需依赖前期检测系统的缺陷坐标输入。适用于Inline制程的快速缺陷观测与分类需求。

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