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NT-MDT近场光学显微镜SNOM

价格 1000000.00元/
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品牌名称
NT-MDT
厂家区域
上海
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产品详情
型号:
Ntegra SNOM
产地:
俄罗斯

原理:用超越激光衍射极限的系统来研究样品

NTEGRA Spectra 在检测样品时,通过扫描近场光学显微术能提供超越激光光学衍射的光学分辨率。
支持两种不同的SNOM方式:光纤式SNOM和悬臂梁式SNOM所有的SNOM功能模式:透射模式,反射模式,收集模式。

所有SNOM的信号都可以被检测:激光强度,荧光强度,光谱信号等。

SNOM刻蚀:矢量式,光栅式。


NTEGRA Spectra 采用开放式光路设计,使其能够与多种光学仪器进行联用。应用领域包括微区化学成分分析、力学性能、介电性质和光学的反射、透射、传播性能的、碳基化合物、生物材料、半导体等,联用测量的空间研究等等。能够分析各种来源的复杂样品,包括聚合物分辨率已经接近纳米尺度。

技术参数

扫描方式

样品扫描

针尖扫描

样品尺寸

zui大直径40mm

zui大高度15mm

zui大直径100mm

zui大高度15mm

样品重量

zui大100g

zui大300g

XY样品定位

5×5mm

定位精度

分辨率:5μm 灵敏度:2μm

扫描范围

100×100×10μm

3×3×2.6μm

100×100×10μm

50×50×5μm

zui大200×200×20μm (DualScanTM模式)

非线性度,XY

(带有闭环传感器)

=0.1%

=0.15%

Z方向噪音水平(1000Hz带宽时的RMS)

带有传感器

0.04nm(典型值)

=0.06nm

0.06nm(典型值)

=0.07nm

不带传感器

0.03nm

0.05nm

XY方向噪音水平(200Hz带宽时的RMS)

带有传感器

0.2nm(典型值)

=0.3nm(XY   100μm)

0.1nm(典型值)

=0.2nm(XY   50μm)

不带传感器

0.02nm(XY   100μm)

=0.001nm(XY   3μm)

0.01nm   (XY 50μm)

线性度评价误差(带有传感器)

±0.5%

±1.2%

光学观察系统

光学分辨率

1μm

3μm


视野

4.5-0.4mm

2.0-0.4mm


连续变焦



注:该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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