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日立CS4800高解析度FEB测量装置/关键尺寸扫描电子显微镜(CD-SEM)

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品牌名称
日立
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产品详情
产地:
日本
型号:
CS4800

日立CS4800是一款高解析度CD-SEM,专为4/6/8英寸晶圆(包括SiC、GaN等材料)的精确测量设计,测量精度达1nm(3σ)。其核心优势包括:搭载光学轴自动调整技术减少人为误差,高精度图像处理实现Recipe自动化测量提升产能,以及多尺寸晶圆自动搬送系统(兼容双装片装置)。紧凑设计便于产线整合,GUI简化操作流程,特别适合现有产线升级或联合使用。设备尺寸为1180×2500×1990mm,适用于半导体制造中的关键尺寸检测需求。

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