台式显微镜 TM4000II/TM4000PlusII

产地：

日本

型号：

TM4000II/TM4000PlusII

台式扫描电子显微镜(SEM)全新升级。

我们以“更高画质、更易于使用、更易于观察”为理念，开发出TM4000系列。在此基础上，我们又推出功能更为多样的TM4000Ⅱ系列。
为您提供全新的观察和分析应用。

观察图像3分钟。可迅速获得所需数据，并制作报告。

观察与分析的灵活性

自动获取各类数据。快速切换！

可快速获得元素分布图*2

*1 TM4000PlusⅡ的功能。

*2 选配

使用Camera Navi*的话，就是如此简单

Camera Navi图像让您轻松找到视野，分布图(MAP)功能全程支持您的观察

*

选配：Camera Navi系统

您也可以观看视频

操作简单且快捷

观察图像只需 3 分钟。
可快速观察图像，并导出测试报告。

 

Report Creator可让您轻松制作报告

只需选择图像和模板，就可以制作Microsoft Word、Excel、PowerPoint格式的报告

即便是绝缘物样品，也无需预处理，就可直接进行观察。“静电减轻模式”可抑制静电现象

对于容易产生静电的样品，可使用“静电减轻模式”，在抑制静电的状态下进行观察。
只需用鼠标在软件上点击即可切换到“静电减轻模式”。

可在低真空的条件下进行多种观察

对于容易产生静电的粉末或含水等样品，可结合其目的进行观察。

可在低真空的条件下进行二次电子像（表面形状）观察。无需预处理，也可以观察绝缘物和含水、含油样品的表面

不仅是观察传统的导电性样品，还可以在无预处理的条件下观察绝缘物和含水、含油样品。可快速进行二次电子像与背散射电子像之间的切换。

高感度低真空二次电子检测器
采用高感度低真空二次电子检测器(UVD)。通过检测由于电子线与残留气体分子之间的碰撞而产生的光，可以观察带有二次电子信息的图像。此外，通过控制该检测器，来检测电子照射所产生的光，可以获得CL信息（UVD-CL：带有CL信息的图像）。

高感度低真空二次电子检测器的检测原理

可支持加速电压20 kV

TM4000Ⅱ/TM4000Plus II可支持加速电压20 kV。
凭借EDS分析（选配），可进行更高计数率解析。

通过加速电压20 kV，实现EDS元素分布图的高S/N化

Multi Zigzag（选配）

可实现在广域范围内进行SEM观察。
搭配自动马达台，可实现低倍率，高精度，大范围的观察分析。

非常简单的 EDX 分析面分析

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谱峰分析

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线分析

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EM 样品台（选配）可轻松观察 STEM 图像

与全新开发的 STEM 样品台和高灵敏度低真空二次电子检测器(UVD)配合使用，可轻松观察小倍率 STEM 图像。
可轻松观察薄膜样品和生物样品。

* UVD为 TM4000Plus II上的配件。

样品：研磨剂
加速电压：20 kV
观察信号：(a) STEM 图像, (b) 背散射电子像
放大倍率：10000 倍

样品：老鼠肾脏
加速电压：15 kV
观察信号： STEM 图像
放大倍率：1000倍

样品：老鼠肝脏
加速电压：15 kV
观察信号： STEM 图像
倍率：5000倍

规格

项目	TM4000PlusII	TM4000II
倍率	×10～×100,000（照片倍率） ×25～×250,000（显示器倍率）
加速电压	5 kV、10 kV、15 kV、20 kV
图像信号	背散射电子 二次电子 复合图像（背散射电子+二次电子）	背散射电子
真空模式	导电体（仅背散射电子） 标准 静电减轻	标准 静电减轻
样品可移动范围	X：40 mm Y：35 mm
最大样品尺寸：	80 mm（直径） 50 mm（厚度）
电子枪	集中灯箱(Pre-Centered Catridge Filament)
检测器	背散射电子：高感度4分割 背散电子检测器 二次电子：高感度低真空 二次电子检测器	背散射电子：高感度4分割 背散射电子检测器
排气系统 （真空泵）	涡轮分子泵：67 L/s　1台 隔膜泵：20 L/min
尺寸与重量	主体：330（宽度）×614（进深）×547（高度） mm、54 kg（附带马达驱动的样品台） 主体：330（宽度）×617（进深）×547（高度） mm、54 kg（附带手动样品台） 隔膜泵：144（宽度）×270（进深）×216（高度） mm

台式显微镜 TM4000II/TM4000PlusII由日立高新技术公司 为您提供，如您想了解更多关于台式显微镜 TM4000II/TM4000PlusII报价、参数等信息 ，欢迎来电或留言咨询。