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日本理学Simultix 15波长色散XRF 元素精确分析

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理学
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产品详情
产地:
日本
型号:
Simultix 15

XRF工作原理是X射线光管发出的初级X射线照射样品,样品中原子的内层电子被激发,当外层电子跃迁时产生特征X射线,通过分析样品中不同元素产生的特征荧光X射线波长(或能量)和强度,可以获得样品中的元素组成与含量信息,达到定性定量分析的目的。

40 多年来,Rigaku Simultix 同步波长色散 X 射线荧光 (WDXRF) 光谱仪系统已被广泛用作需要高吞吐量和精度的行业(例如钢铁和水泥)过程控制的元素分析工具。近 1,000 台 Simultix 波长色散X射线荧光光谱仪已交付给全球客户。随着这些年的技术进步,客户的要求也变得先进和多样化。Simultix 15 波长色散X射线荧光光谱仪专为满足这些不断变化的需求而开发。它提供了显着改进的性能、功能和可用性。紧凑而智能的 Simultix 15 是一款功能强大的元素分析工具,在许多工业领域都表现出卓越的性能。


XRF 用于快速、精确的元素分析

分析几乎任何样品基质中的铍 (Be) 到铀 (U)。自动化过程控制最重要的指标是精密度、准确度和样品吞吐量。Simultix 15 波长色散X射线荧光光谱仪具有多达 30 个(和可选的 40 个)离散和优化的元素通道和 4 kW(或可选的 3 kW)X 射线管功率,可提供无与伦比的分析速度和灵敏度。结合功能强大但易于使用的软件,具有广泛的数据简化功能和维护功能,该仪器是完美的元素分析计量工具。


完全自动化的 XRF 元素分析

对于高吞吐量应用程序,自动化是一项基本要求。Rigaku Simultix 15 波长色散X射线荧光光谱仪可配备 48 位自动进样器 (ASC)。对于全自动化,可选的样品加载单元提供来自第三方样品制备自动化系统的右侧或左侧传送带进料。

通过同步 WDXRF 进行元素分析

特征

合成多层,RX-SERIES

新型合成多层晶体“RX85”产生的强度比现有的 Be-Ka 和 B-Ka 多层晶体高约 30%。

XRD通道

Simultix 15 配备 XRD 通道,可以通过 XRF 和 XRD 进行定量分析。

双曲面水晶

可选的双曲面晶体可以配备到固定通道。与单曲面晶体相比,双曲面晶体的强度增加。

改进的软件易于使用

Simultix 15软件采用与ZSX软件相同的定量分析流程条,增强了定量条件设置的可操作性。

重型和轻型扫描测角仪

可选的宽元素范围测角仪支持无标样半定量(FP),可用于非常规元素的定性或定量测定。

微量元素的 BG 测量

固定通道的可选背景测量 (BG),从而改进校准拟合和卓越的精度。

自动压力控制 (APC)

可选的 APC 系统在光学室中保持恒定的真空度,以显着提高轻元素分析精度。

定量散射比法

当使用康普顿散射比法进行矿石和精矿分析时,可选的定量散射比法生成用于散射比校准的理论 alpha。

多达 40 个固定频道

标准的 30 个固定通道配置,可以选择升级到 40 个通道。

自动化

可选的样品加载装置提供来自第三方样品制备自动化系统的传送带进料。


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