XRF-1800型波长色散型X射线荧光光谱仪

产地：

日本

型号：

XRF-1800型

仪器简介：

　　可进行固体、粉末、液体等多种样品的定性分析和无需工作曲线的FP法定量分析。在成熟的硬件上又增加了新开发的利用高次线进行的定性定量法、250 um给图功能等，进一步提高了可靠性，充实了应用。

　　技术参数：

　　●分析元素 8O ~ 92U （4Be ~ 7N选配）

　　●X射线管 4kW薄窗、Rh靶

　　●分光器 10晶体可交换，5种狭缝可交换，高次线轮廓功能，超高速分析功能（300°/min）

　　●小束斑功能 分析直径500μm

　　●成象功能 表示直径250μm

主要特点：

　　可进行固体、粉末、液体等多种样品的定性分析和无需工作曲线的FP法定量分析。在成熟的硬件上又增加了新开发的利用高次线进行的定性定量法、250μm成象功能等，进一步提高了可靠性，充实了应用。

250μm微区分布成像分析功能！

XRF-1500/1700系列X射线荧光光谱仪是在世界上首先开发出微区分析/分布分析功能，并率先采用了4KW薄窗X射线管，扩大了X射线荧光分析的应用领域，作为具有开创性的仪器而得到了很高评价，业已销售200余台。
扫描型X射线荧光光谱仪 XRF-1800型从仪器的硬件与软件在许多细节都进行了改进，使得仪器的可靠性与可操作性更进一步提高，增加了岛津研发的250μm微区分布成像分析功能，从而达到更高的水平。作为高灵敏度和微区分析的开拓者，岛津公司非常自信地向用户奉献出优异的XRF-1800型X射线荧光光谱仪。

 在波长色散型装置中，250μm微区分布成像分析功能

  可分析不均匀样品的含量分布、强度分布。

   
稀土元素矿石的XRF-1800成像分析实例

· 利用高次谱线进行准确的定性/定量分析（专利申请中）

高次谱线的判定更加准确，提高了定性定量分析的准确度/可靠性。

利用XRF-1800的高次谱线分析刹车片实例

· 测定高分子薄膜的膜厚与无机成分分析的背景基本参数(BG-FP)法

  利用康普顿散射/瑞利散射的强度比计算出荧光X射线分析不能得到的氢（H）元 素的信息。高分子薄膜分析中，利用康普顿散射线的理论强度作为高分子薄膜 的信息。

使用XRF-1800进行的膜厚测定、薄膜测定实例

· 微区分析结构
   独自开发的特殊形状的滑动式视野限制光栏，利用r方向滑动与样品旋转控制的q转动，可以在30mm直径内的任意位置进行分析。 

· 利用CCD相机可以直接观察样品（选配件）
   在测定室导入样品的位置上，将样品容器按照与测定位置相同的方式放置，通过CCD摄取样品的图像，可使测定位置与图像相吻合。
   （专利申请中） 

· 配备高可靠性、长寿命的4kW薄窗Ｘ射线管
   配备平均寿命在5年以上的高可靠性Ｘ射线管。与传统的3kWＸ射线管相比，轻元素的分析灵敏度提高2倍以上。

· 集成岛津技能精华的模块功能,匹配分析功能
   对应于液体、粉末、固体、金属、氧化物等不同形态的样品具有相应的分析条件，在这基础上可编制良好的分析条件。可根据不同材质。
   判定、品种分类、品种判定、一致性检索这4种匹配功能进行判定、检索。

XRF-1800型波长色散型X射线荧光光谱仪由岛津企业管理（中国）有限公司 为您提供，如您想了解更多关于XRF-1800型波长色散型X射线荧光光谱仪报价、参数等信息 ，欢迎来电或留言咨询。