XDV-SDD高端全能型X摄像荧光光谱仪

产地：

德国

型号：

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD

高端泛用的XRF分析仪，用于超薄镀层 (<0.05μm) 的自动测量和低于每密耳范围的精细材料分析，符合ISO 3497 和 ASTM B 568 标准

带钨靶的微聚焦射线管

4个可切换的准直器，用于优化测量条件

6种可切换的滤波器，为更复杂的测量任务提供zui佳的激发条件

极其强大的硅漂移探测器 (SDD) ，具有50 mm²的超大有效面积

数字脉冲处理器 DPP+ ，用于提高计数率，减少测量时间或提高测量结果的重复性

分析从 Al(13) 到 U(92) 的元素

样品高度可达 14cm

高精度、可编程的 XY 平台，定位精度 < 5 µm，用于小结构的自动测量

采用DCM方法，可简单、快速地调整测量距离

完全受保护的仪器，根据现行的辐射保护法规获得型号认证

测量电子和半导体工业中功能性镀层，例如，低至2nm的金镀层的厚度测量

分析电子和半导体行业的薄镀层和极薄镀层，例如 ≤0.1µm 的 Au/Pd 镀层

测定复杂的多层系统

测量硬质材料涂层

光伏行业的涂层厚度测量

根据RoHS、WEEE、CPSIA和其他电子产品、包装和消费品的指令，对铅和镉等有害物质进行痕量分析

黄金和其他贵金属及其合金的分析和真实性测试

直接测定功能性NiP镀层中的磷含量。

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD是Fischer产品组合中zui强大的X射线荧光仪器之一。这台XRF光谱仪配备了高分辨率和强大的硅漂移探测器 (SDD) ，其有效面积为 50 mm² 。这使您可以精确地、无损地测量zui薄的涂层--例如，引线框架上约 2nm 厚的金镀层。

结合内部开发的新数字脉冲处理器DPP+，您可以将您的测量性能提高到一个新的水平。现在可以处理更高的计数率，从而缩短测量时间或提高测量结果的重复性。同时，XDV-SDD完全适用于非破坏性的材料分析。例如，它对塑料中的微量铅的检测灵敏度约为2ppm - 比RoHS或CPSIA中要求的数值低几个数量级。

为了给每个XRF涂层厚度测量创造理想的条件，XDV-SDD有可切换的准直器和初级滤波器，可以工作在科学的状态下。这款极其坚固的设备，有直观的控制面板，通过操纵杆和按钮，很容易操作，专为工业用途的连续测试而设计。

XDV-SDD高端全能型X摄像荧光光谱仪由菲希尔测试仪器（中国）有限公司                        为您提供，如您想了解更多关于XDV-SDD高端全能型X摄像荧光光谱仪报价、参数等信息                        ，欢迎来电或留言咨询。