FT110A台式 XRF 镀层面议
XRF镀层测厚仪X-Strat面议
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M1 MISTRAL镀层测厚仪面议
博曼（Bowman）XRF镀￥1000000.00/
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Fischer MMS® INSPECTION
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菲希尔XULM系列 X射线荧光镀层测厚
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菲希尔XDLM-PCB系列 X射线荧光镀层
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菲希尔FMP10-40 系列涂镀层厚度测量
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菲希尔SMP350电导率测试仪
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菲希尔XDLM系列 X射线荧光镀层测厚
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菲希尔FMP100/150系列
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菲希尔CMS2/STEP库伦仪
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菲希尔HM500纳米压痕仪
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铜箔测厚仪 SR-SCOPE RMP30-S
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FISCHERSCOPE X-RAY XULM 系列是性能卓越、设计紧凑、应用广泛的X射线荧光镀层及材料分析仪。常用于无损测量细小工件上的镀层厚度和材料分析。特别适合在质量管控、来料检验及生产过程控制中测量使用。
FISCHERSCOPE X-RAY XULM 系列仪器是用户界面友好的台式测量仪, 配备手动XY轴工作台，用于细小样品的精确定位。
XULM240具备4个可切换准直器, 3个可切换基本滤片, 采用比例接收器, 高分辨率CCD彩色摄像头，手动聚焦，LED亮度可调节
使用时温度范围10℃-40℃，空气相对湿度≤95%，无结露
可按要求，提供额外的XULM型产品更改和技术咨询。
注：该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
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