理学 Ultima IV 全自动多功能X射线衍射仪 晶体结构测定

产地：

日本

型号：

Ultima IV

 X射线衍射仪主要是用于测定晶体结构，根据晶体结构来判断矿物种类，根据衍射峰的强弱来判断物相含量的高低。多晶X射线衍射仪也称为粉末衍射仪，被测对象通常为粉末、多晶体金属或高聚物等块体材料。

仪器简介：
       组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统，一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构，通过对各个单元的不同组合，可以进行各种测试。

技术参数：

1. X射线发生器功率为3KW
2. 测角仪为水平测角仪
3. 测角仪最小步进为1/10000度
4. 测角仪配程序式可变狭缝
5. 高反射效率的石墨单色器
6. CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学独有）
7. 小角散射测试组件
8. 多用途薄膜测试组件
9. 微区测试组件
10. In-Plane测试组件（理学独有）
11. 高速探测器D/teX-Ultra
12. X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC
13. 分析软件包括：XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等

主要特点：

    组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品

主要的应用有：

1. 粉末样品的物相定性与定量分析

2. 计算结晶化度、晶粒大小

3. 确定晶系、晶粒大小与畸变

4. Rietveld结构分析

5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度

6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构

7. 小角散射与纳米材料粒径分布

8. 微区样品的分析