理学 ZSX Primus III+ 扫描型X射线荧光光谱仪

产地：

日本

型号：

ZSX Primus III+

X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。

Rigaku ZSX Primus III +以很少的标准在各种样品类型中快速定量测定从氧气（O）到铀（U）的主要和次要原子元素。
高于光学元件的管道，可靠性更高

ZSX Primus III +具有创新的光学上述配置。由于样品室的维护，再也不用担心被污染的光束路径或停机时间。光学元件以上的几何结构消除了清洁问题并延长了使用时间。

样品的高精度定位确保样品表面与X射线管之间的距离保持恒定。这对于要求高精度的应用很重要，例如合金分析。ZSX Primus III +采用独特的光学配置进行高精度分析，旨在限度地减少样品中非平坦表面引起的误差，如熔融珠和压制颗粒

EZ扫描允许用户在未事先设置的情况下分析未知样品。节省时间功能只需点击几下鼠标并输入样品名称。结合SQX基本参数软件，它可以提供最准确，最快速的XRF结果。SQX能够自动校正所有的矩阵效应，包括线重叠。SQX还可以校正光电子（光和超轻元素），不同气氛，杂质和不同样品尺寸的二次激发效应。使用匹配库和完美的扫描分析程序可以提高准确度。

元素从O到U的分析

管道上方的光学器件使污染问题最小化

占地面积小，使用的实验室空间有限

高精度样品定位

特殊光学元件可减少曲面样品表面造成的误差

统计过程控制软件工具（SPC）

吞吐量可以优化疏散和真空泄漏率

理学 ZSX Primus III+ 扫描型X射线荧光光谱仪由理学中国 为您提供，如您想了解更多关于理学 ZSX Primus III+ 扫描型X射线荧光光谱仪报价、参数等信息 ，欢迎来电或留言咨询。