理学 全新智能型X射线衍射仪 NEW SmartLab

型号：

SmartLab系列

产地：

日本

仪器介绍：
        全新智能X射线衍射仪SmartLab系列，是当今世界高性能的多功能的X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件SmartLab Guidance，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。

技术参数：
1、X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶
2、测角仪为水平测角仪
3、测角仪zui小步进为1/10000度，高精度测角仪(双光学编码、直接轴上定位)(理学zhuan利)
4、测角仪配程序式可变狭缝
5、自动识别所有光学组件、样品台（理学zhuan利）
6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学zhuan利）
7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)
8、多用途薄膜测试组件
9、微区测试组件、CBO-F微区光学组件
10、In-Plane测试组件（理学独有）
11、入射端Ka1光学组件
12、高速探测器D/teX-Ultra（能量分辨率20%以下）
13、二维面探PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器，可以接收直射X射线)
14、智能的测量分析软件SmartLab Guidance（zhuan利）

   主要特点:
          智能X射线衍射仪SmartLab系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。
  可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料
  可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品

  主要的应用有：

   1. 粉末样品的物相定性与定量分析
   2. 计算结晶化度、晶粒大小
   3. 确定晶系、晶粒大小与畸变
   4. Rietveld定量分析
   5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度
   6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构
   7. 小角散射与纳米材料粒径分布
   8. 微区样品的分析

注：该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证，不可用于临床诊断或治疗等相关用途