理学 ZSX Primus IV波长色散型XRF 极地光谱元素检测

产地：

日本

型号：

ZSX Primus IV

仪器简介：

    ZSX Primus Ⅳ是理学公司全新奉献的上照射式X射线荧光光谱仪,因采用了新型分光晶体,使轻元素分析(如C,B)灵敏度大幅度提高。超轻元素对应X射线光管,大功率4千瓦,薄窗,适合轻元素分析。48样品台,节省空间.1次滤波片,可去掉来自光管的特征谱线,减低背景。双真空,双泵设计,节省抽真空时间。防粉尘附件,可防止粉末掉入真空泵。微区分析可达500，适合少量样品分析。 
    软件在原有的SQX软件基础上进一步完善,采用对话方式,进行EZ扫描。应用模板,可将各种测试条件,以及前处理顺序设置其中。FP无标样分析,是理学公司多年来总结出的一套很好的分析方法,不设定测试成分也能准确分析。流程条,按顺序显示测试处理内容。标准样品,操作手册全中文提供,方便中国用户。 
维修保养:PAS自动调整,芯线自动清洗.给用户带来方便。

技术参数：

硬件： 
1. 对应超轻元素的X射线光管：采用4kW、30μm薄窗X射线光管，可高灵敏度测试超轻元素。 
2. 采用新型光学系统：采用新型分光晶体，与第二代仪器分光晶体相比，大幅度提高了灵敏度。 
3. 48样品交换器：实现平台式共享化，可放置48个样品，多样品交换器实现了省空间。 
4. 1次X射线滤光片：除去X射线光管的特征X射线光谱，在减低背景干扰方面发挥威力。 
5. 双泵、双真空系统：采用双真空系统（样品室/预抽真空室）；防止粉末样品的细微粉尘混入光学系统的    结构设计，样品交换实现更高效率。 
6. 粉末附件：电磁阀真空密封、防止细微粉尘进入真空泵内。 
7.定点分析： 
    100μm的Mapping分辨率。可在CCD图像上指定点、区域、线。定点最小直径500μm。 
    采用r-θ样品台，避免1次X射线的照射面、以及分光晶体的反射强度的干扰，可得到很佳灵敏度分析结果。(无r-θ样品台) 节能、节省空间、节能功能（自动减少X射线光管输出）减少冷却水量5L/min（水温30以下）PR气体流量减少（5mL/min）省空间。采用联体设计，设置面积只占传统仪器70%的空间。便于维护PAS脉冲高度自动调整 F-PC芯线自动清洗。 

软件： 
1. 新版SQX软件：在RIGAKU独有的基本参数法技术的基础上SQX（Scan Quant X），追加了新功能。 
2. 委托分析EZ扫描：采用对话框形式设定，可进行SQX分析。 
3. 定角测试模式：微量元素，采用谱峰和扣背景以一定时间记数方法，使用抑制统计变动的X射线强度，算出分析值。自动设定每个样品变化扣背景的位置。 
4. 应用模板 ：各种测试条件以及样品前处理顺序均设置其中。 
5. 散射线FP法： 
   不需设定非测试成分，也可以准确分析。散射线强度计算，可以考虑几何学效果，没有样品量信息也可准确分析。不易加压成形的样品以及油状样品，使用SQX软件，可以简单、准确地进行分析。 
流程条： 测试、处理流程显示。根据流程条内容，击鼠标键，便可按顺序进行所需的测试、处理。 
其它特点的软件功能： 
 SQX分析功能 
 Mapping数据库 
 材质辨别 
 理论重叠校正 
 自动程序运转 
 校正投入量计算 

 应用软件包： 
 应用软件包，设定样品（标准样品、漂移校正样品） 
 CD-ROM（测试条件、校正常数等）、操作手册全盘提供。

主要特点：

1. 轻元素（B,C）灵敏度大幅度提高 
2. 配备全新的、高强度的分光晶体RX-25,RX-61,RX-75 
3. 重金属的高灵敏度分析-采用全新型光学系统 
4. 高灵敏度微区分析-Mapping位置分辨率100μm 
5. 完美的无标样分析-全新的SQX软件 
6. 仪器设计充分考虑周边环境-节能、省空间