理学NEX DE 能量色散XRF 粉末样品分析

产地：

日本

型号：

NEX DE

X 射线荧光光谱仪的不断完善和发展所带动的X 射线荧光分析技术已被广泛用于冶金、地质、矿物、石油、化工、生物、医疗、刑侦、考古等诸多部门和领域。X 射线荧光光谱分析不仅成为对其物质的化学元素、物相、化学立体结构、物证材料进行试测，对产品和材料质量进行无损检测，对人体进行医检和微电路的光刻检验等的重要分析手段，也是材料科学、生命科学、环境科学等普遍采用的一种快速、准确而又经济的多元素分析方法。同时，X 射线荧光光谱仪也是野外现场分析和过程控制分析等方面首选仪器之一。

用于分析少量粉末样品，如果是粉末，则样品体积足以用于微刮刀。直接激发光学系统可以对直径为1 mm的小样品进行灵敏分析。

       作为粉末X射线衍射的辅助装置，从Rigaku制造的集成粉末X射线分析软件PDXL的定性分析的自动搜索设置屏幕，您可以阅读NEX DE的测量结果文件。 NEX DE获得的元素信息反映在搜索条件中。可以从Na到U进行分析

      它可以从研究和开发到过程控制一般使用。通过FP方法进行无标准分析，由于批量FP方法和薄膜FP方法作为标准安装，因此即使对于不能制备标准样品的样品，也可以容易地进行定性和定量分析。此外，还可以使用标准校准方法进行定量分析。可以安装在任何地方，仅使用AC100V电源供电，无需冷却水。没有必要指定X射线任务管理器。

       只需将异形小直径样品与样品观察相机放在一起就可以简单进行测量。只需轻轻一按就可以生成RoHS专用结果报告书。除RoHS以外、还可以用于异物分析、少量样品等多种分析。

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