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- 产地：
- 日本
- 型号：
- Supermini 200
日本理学波长色散X荧光光谱仪Supermini 200
大功率台式顺序式WDXRF光谱仪—固体、液体、粉末、合金和薄膜的元素分析Supermini 200在锂电行业应用
为检验WDXRF应用于锂电池正极材料的分析性能，采用Supermini 200对三个正极材料样品中主要成分（Ni，Co，Mn）的含量比值分析，结果表明与ICP结果匹配，除此之外也能分离出Fe与Mn的光谱，可以高精度检测出可能导致电池短路的微量Fe杂质。
单位：mol
分析样品 | Al | Ni | Co | Mn | |
样品A NCA（0.80/0.15/0.05） | 分析值 | 0.042 | 0.804 | 0.154 | - |
ICP值 | 0.05 | 0.80 | 0.15 | - | |
样品B NCM（0.80/0.10/0.05） | 分析值 | - | 0.847 | 0.098 | 0.055 |
ICP值 | - | 0.85 | 0.10 | 0.05 | |
样品B NCM（0.50/0.20/0.30） | 分析值 | - | 0.507 | 0.198 | 0.295 |
ICP值 | 0.50 | 0.20 | 0.30 |
为检验WDXRF应用于锂电池石墨负极材料的分析性能，采用Supermini 200三个石墨样品进行测试，结果表明不同样品中杂质含量差别较大，轻元素杂质例如Al和Si可以从10ppm开始检测出。
单位：ppm N.D.:低于检出限
材料 | Na | Mg | Al | Si | S | K | Fe |
A | 88 | 740 | N.D. | 8 | 2978 | 149 | 13 |
B | N.D. | N.D. | 45 | 140 | 115 | 119 | 213 |
C | N.D. | N.D. | 6 | 50 | 32 | 123 | 42 |
Si负极的原材料多数来源于Si晶片的回收，Si负极材料中存在大量的杂质。采用Supermini 200能将Al与Si的光谱分离开，微量Al杂质也可以精确检测。
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