理学NEX DE 台式能量色散X射线荧光分析仪

产地：

日本

型号：

NEX DE

能量色散X射线荧光分析（EDXRF）是一种快速、无损、多元素同时测定的现代测试分析技术，已广泛应用于材料科学、生物医学、地质研究、环境监测、天体物理、文物考古、刑事侦查等诸多领域。它最大一个特点就是对样品进行定性、定量分析时不用制样，可选择整个或取样品部分残片颗粒，也可以将样品研磨成粉末等来进行X射线荧光分析，对测试分析样品大小要求较低，在一定范围内样品可大可小，因此对于一般的考古完整器都能直接进行分析，极大地避免了在对较大的珍贵古陶瓷等文物进行科学分析研究的同时对其产生的破坏。

用于分析少量粉末样品，如果是粉末，则样品体积足以用于微刮刀。直接激发光学系统可以对直径为1 mm的小样品进行灵敏分析。

       作为粉末X射线衍射的辅助装置，从Rigaku制造的集成粉末X射线分析软件PDXL的定性分析的自动搜索设置屏幕，您可以阅读NEX DE的测量结果文件。 NEX DE获得的元素信息反映在搜索条件中。可以从Na到U进行分析

      它可以从研究和开发到过程控制一般使用。通过FP方法进行无标准分析，由于批量FP方法和薄膜FP方法作为标准安装，因此即使对于不能制备标准样品的样品，也可以容易地进行定性和定量分析。此外，还可以使用标准校准方法进行定量分析。可以安装在任何地方，仅使用AC100V电源供电，无需冷却水。没有必要指定X射线任务管理器。

       只需将异形小直径样品与样品观察相机放在一起就可以简单进行测量。只需轻轻一按就可以生成RoHS专用结果报告书。除RoHS以外、还可以用于异物分析、少量样品等多种分析。

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