基恩士 LJ-V7000系列 超高速轮廓测量仪 用于半导体领域

产地：

日本

型号：

LJ-V7000

半导体（semiconductor）指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，如二极管就是采用半导体制作的器件。无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常巨大的。大部分的电子产品，如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关联。

业界超快速度64,000个轮廓/秒，可以同时测量不同反光强度的材质，高速度，高精度，高稳定性。

超快的速度 64,000 个轮廓／秒 - 瞬时测量所有形状

    所谓真正实用的激光测量仪是指？
“提高质量”、“防止不良流出”、“提高成品率”，客户提出的制造课题日益增加， 要求水平也越来越高。

    基恩士最新提出了“对所有产品的所有形状进行‘精细’测量”的终级质量管理方案
——超高速轮廓测量仪 LJ-V7000 系列。

性能：
   •每秒 64000 个轮廓。对间距 0.1mm 、移动速度高达 6.4 米/秒的工件进行轮廓测量
   •稳定测量黑橡胶和金属工件，或是有倾斜表面的工件。
   •74 种测量模式/16 块区域同时测量
   •以 64 kHz 的速率输出原始轮廓数据

应用：

基恩士 LJ-V7000系列 超高速轮廓测量仪 用于半导体领域由基恩士（中国）有限公司 为您提供，如您想了解更多关于基恩士 LJ-V7000系列 超高速轮廓测量仪 用于半导体领域报价、参数等信息 ，欢迎来电或留言咨询。