- 产地:
- 日本
- 型号:
- SI-F
测量工件表面粗糙度时,将传感器放在工件被测表面上,由仪器内部的驱动机构带动传感器沿被测表面做等速滑行,传感器通过内置的锐利触针感受被测表面的粗糙度,此时工件被测表面的粗糙度引起触针产生位移,该位移使传感器电感线圈的电感量发生变化,从而在相敏整流器的输出端产生与被测表面粗糙度成比例的模拟信号,该信号经过放大及电平转换之后进入数据采集系统,DSP芯片将采集的数据进行数字滤波和参数计算,测量结果在液晶显示器上读出,也可在打印机上输出,还可以与PC机进行通讯。
微型传感头型分光干涉式 激光位移计 SI-F 系列
业界超细微型传感器头,超高精度,解决了内置电子零件传感次的发热问题,也不受电磁噪声影响。
产品特性传感头包括超小传感头、长距离传感头和适用于其他各种应用的专用传感头。

传感头只由光纤和镜头组成,不包含电子零件

[超高精度] 分辨率:0.25 μm
[超小尺寸] 微型传感头尺寸:?2 mm
[超前技术] 测量原理:分光干涉法
同时控制 6 个传感头
多重计算
控制器配有 6 个不同的输入输出接口
易于使用的数据收集专用 PC 软件



基恩士 SI-F 微型传感头型分光干涉式激光位移计 消除发生测量错误由基恩士(中国)有限公司 为您提供,如您想了解更多关于基恩士 SI-F 微型传感头型分光干涉式激光位移计 消除发生测量错误报价、参数等信息 ,欢迎来电或留言咨询。
















第1年


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