日本电子JSM-IT800超高分辨热场发射扫描电镜 石墨烯

产地：

日本

型号：

JSM-IT800

 技术指标：
 分辨率:0.8nm (15kV)1.2nm (1kV)
 放大倍数:25 to 2,000,000x
 加速电压:0.01 to 30kV
 束流强度:300 nA（15kV)以上
 电子枪:浸没式热场发射电子枪
 物镜设计:超级混合式物镜
 样品台:5轴马达驱动
       

JSM-IT800 热场发射扫描电子显微镜

     配备了新开发的超级混合式物镜(SHL)，在保持极高的可操作性的同时，实现了低加速电压下的高分辨率，电子源采用浸没式（in-lens）肖特基场发射电子枪，因而能以大束流电流进行稳定的分析。

产品特点：

    配备了新开发的超级混合式物镜(SHL)，在保持极高的可操作性的同时，实现了低加速电压下的高分辨率，电子源采用浸没式（in-lens）肖特基场发射电子枪，因而能以大束流电流进行稳定的分析。

通过超级混合式物镜(SHL)进行高分辨率观察

       物镜采用的是静电场和静磁场叠加的超级混合式物镜(SHL)，由于减少了色差及球差，极大地提高了低加速电压下的分辨率。此外，SHL不会对样品形成磁场影响，因此观察磁性材料的样品和进行EBSD测试可以不受制约。

应用实例

低加速电压下的观察

到达样品的能量从10 eV开始就可以观察。下面将到达样品的能量设定为80 eV进行实例观察：一个碳原子厚度的石墨薄片的表面

Specimen: Graphene

样品: 石墨烯　到达能量80eV

能量选择

UED和USD能同时获取背散射电子像(左图)和二次电子像(右图)，因此可以精确地解释图像。二次电子像主要反映形貌信息，金颗粒和TiO2的衬度没有明显不同，而背散射电子像中原子序数高的金颗粒则显得明亮。

背散射电子像 BE image

二次电子像 SE image

样品: 金负载型TiO2催化剂(2kV)g

利用GBSH观察

利用GBSH对样品施加高偏压，像差将会减小，图像的高分辨率会更高。能清楚地观察到介孔二氧化硅里中的微孔(下图)。

样品：介孔二氧化硅　到达样品的能量: 1keV

观察磁性材料样品

SHL物镜能抑制磁场的泄漏，因此即便是磁性材料的样品，也可以用极低的入射电子能量很容易地进行高分辨率观察 。

样品: 磁铁矿纳米颗粒　到达样品的能量: 1keV

磁性样品的EBSD测试

SHL没有磁场泄漏的影响，也很适合于EBSD。象下图所示那样，通过反极图能准确地确定晶体的取向。

分析点数: 118585

尺寸: Xzei大: 80.00微米, Y zei大: 79.89微米,步长: 0.25微米, 相: Nd2Fe14B 

从样品中获得的EBSD花样实例( 在任意点上获取)

 ND                    TD                    RD

产品规格：

主要选配件

能谱仪（EDS)

波谱仪（WDS）

电子背散射衍射系统（EBSD)

阴极荧光系统（CLD）

主要特点:
 超高的分辨率0.5 nm (15 kV) and 0.7 nm (1 kV).
 高速精确分析能力
 稳定的大束流
 从磁性样品到非导体样品使用范围广泛
 

日本电子JSM-IT800超高分辨热场发射扫描电镜 石墨烯由日本电子株式会社(JEOL) 为您提供，如您想了解更多关于日本电子JSM-IT800超高分辨热场发射扫描电镜 石墨烯报价、参数等信息 ，欢迎来电或留言咨询。