- 产地:
- 日本
- 型号:
- Quantax75
操作简单且直观
* :和TM4000Plus搭配应用实例
* :探测器内置型
(制造商: 德国Bruker nano GmbH)
仅需选择图像和模板,即可在生成Word®、Excel®、面分布信息的同时,实时显示点分析、线分析结果等多种分析。

可根据点位置移动实时追踪谱图,轻松确认目标元素。

分离出常规面分布图像中的谱峰重叠元素,并显示正确结果。

| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 探测器类型 | 硅漂移探测器 |
| 探测器面积 | 30 mm2 |
| 能量分辨率 | 148 eV (Cu-Kα) (Mn-Kα时不高于129 eV) |
| 可检测元素 | B5~Cf98 |
TM系列专用能谱仪(EDS) Quantax75由日立高新技术公司 为您提供,如您想了解更多关于TM系列专用能谱仪(EDS) Quantax75报价、参数等信息 ,欢迎来电或留言咨询。

















第1年
通过仪器仪表网认证 



台式显微镜 TM4000II/TM4000PlusII
日立UH5300双光束紫外可见分光光度
日立双束(三束)聚焦离子束系统NX2
日立高新NX9000高精度实时三维分析
日立Chromaster PLUS高效液相色谱仪
透射电镜臭氧清洗设备ZONETEM II
TM4000PlusIII/TM4000III台式扫描电
SU9000超高分辨率场发射扫描电子显
日立热场发射扫描电镜SU7000

鲁公网安备37021402001368号