大塚电子非接触式光学膜厚仪AT-5000

型号：

AT-5000

产地：

日本

非接触式光学膜厚仪AT-5000

本设备操作简单，放置样品即可测量的。一步到位。缩短检查工程，无标准曲线，精度高，分辨率高，轻松测量样品的jue对厚度。

光学方式为大冢电子独创，不仅外形小巧，无论透明?粗糙还是易变形的样品，都可以实现非接触式的高精度测量。

特长

非接触式测量不透明、粗糙，易变形的样品

反复性?再现性高

无标准曲线也可知道jue对厚度

测量径很小，不受斑点的影响

样品位置无需调整，放进去即可。

稳定性高，不会产生误差，所以谁都能操作。

光学方式原理所以安全

式样

 

构成图?原理

构成图

任何人都会测量

原理

将光分别照射样品上下部
测量距离基准面的距离。
d=dall-(d1+d2)


比较测量方法

样品例子和测量方法的比较

		非接触光学膜厚仪	接触式膜厚仪	X线式膜厚仪	変位計
样品	凝胶片	○	×	○	○
	不织布	○	×	○	×
	金属板	○	○	○	○
	树脂	○	○	○	○
	多孔质	○	△	○	×
	陶瓷	○	○	○	×
	紙?木	○	○	○	×
测量 条 件	测量时间	○ 高速	○	○	○
	非接触测量	○ 非接触	×	○	○
	前处理	○ 不要	○	×	○

测量案例

 




注：该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证，不可用于临床诊断或治疗等相关用途