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中图仪器SuperView W系列白光干涉3D测量仪，以RMS重复性0.005nm的优异精度，满足超精密表面粗糙度检测需求。其采用白光干涉技术与先进算法，单一扫描即可适配从超光滑到粗糙、不同反射率材质的测量，并有效隔离振动干扰。设备支持四大国际标准、提供超300种参数，且扫描速度快，能高效服务半导体、3C电子、光学及汽车零部件等多行业质检场景。
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