- 产地:
- 美国
- 型号:
- J457
| 测量范围 | 1.26-1.72RI,0-100Brix |
| 测量精度 | 0.000001RI, 0.001Brix |
| 测量准确度 | ±0.00002RI,±0.01Brix |
| 测量波长 | 589.3nm(其他波长可选) |
| 控温范围 | 10-100℃(其他温度可选) |
| 控温精度 | 0.01℃ |
| 控温准确度 | 0.03℃ |
| 控温稳定性 | 0.02℃ |
测量范围:1.26-1.72RI 0-100Brix 超宽测量范围可以满足各种样品的测量需求。
★测量精度:0.00001 RI, 0.01Brix
★测量准确度:±0.00002 Rl,±0.015 Brix
★温度控制:半导体双控温,既可以控制样品池的温度,也可以控制样品盖的温度,保证样品所在的舱体温度稳定。
★控温范围:10-110℃,-5-110℃可选
控温精度:0.01℃
★智能检测“Smart Measure”技术:具有“Smart Measure”智能检测功能,可以自动监测进样的好坏,并且给出报警,自动监测样品池是否清洗干净,并且给出报警信息
分体式设计:控制显示单元和检测单元可以分开,实现远程控制,检测单元可以适应各种监测环境,测量单元可以防雨防尘。同时不需要外接任何PC。
棱镜:蓝宝石棱镜,硬度与钻石相当,而非其他普通光学棱镜
显示器:10.4寸彩色液晶触摸式显示器
电源:110-240 宽电源
通讯接口:RS232,USB:Cat5 Network
标准品:可提供符合NIST标准的标准样品
鲁道夫 J457折光仪 适用于各种环境中由大昌华嘉科学仪器 为您提供,如您想了解更多关于鲁道夫 J457折光仪 适用于各种环境中报价、参数等信息 ,欢迎来电或留言咨询。

















第1年



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