Particle Metrix ZetaView® Evolution 纳米颗粒 荧光标记的纳米颗粒追踪分析仪

新颖的浓度扫描技术

创新的浓度扫描技术彻底革新了纳米颗粒浓度测量。该技术通过全测量体积扫描捕获所有颗粒，实现：
• 免校准测量
• 不同样本类型数据的直接可比性
• 荧光与散射通道数据的直接比对
• 可在宽浓度范围内获得精确、可重复的结果

Zeta电位

Zeta电位是悬浮颗粒滑动面的电势，反映颗粒间静电排斥或吸引的程度，是预测胶体分散体系稳定性的关键参数。Zeta电位的绝对值越高（不论正负），表示颗粒间的排斥力越强，有助于防止它们聚集在一起。ZetaView^® Evolution可直接在石英玻璃测量池内完成Zeta电位测量——无需耗材。

F-NTA荧光模式：检测样本中多达11种亚群

通过荧光模式（F-NTA），可排除盐结晶、蛋白质聚集体等杂质干扰，获得更精准结果。ZetaView^® Evolution特点包括：
• 多达4种激光：405nm、488nm、520nm及640nm或660nm
• 11个荧光通道（支持定制滤光片）
• 灵敏度提升

ZetaSphere软件

结合广受好评的ZetaView软件与多层次样本分析需求，我们推出了全新ZetaSphere软件——专为用户体验设计。