BX53-P 偏光显微镜

产地：

日本

型号：

BX53-P

特性

UIS2光学元件提供了出色的可扩展性
无限远校正的优势UIS2光学系统防止了光学显微镜性能的降低，消除了对显微镜光学放大倍数的影响，即使在光路中插入偏光元件，比如起偏振片、色板或补偿器。在保持高水平系统灵活性的同时，BX53-P也兼容BX3系列系统显微镜的中间附件，以及相机和成像系统。

偏光特性的升级
ACHN-P和UPLFLN-P物镜中使用的精巧设计和生产技术与显微镜完美结合。BX53-P偏光显微镜在起偏振片和检偏振片里配备了高EF值滤色片，提供了较好的图像对比度。为满足研究和应用的多样化要求，万能型UPLFLN-P系列物镜采用了适用于多种观察方法的设计，包括Nomarski DIC和荧光显微镜观察以及偏光观察。
* EF（衰减系数）是平行和交叉偏光滤色片之间的亮度比。EF值越高，消光效果就越好。

种类多样的补偿器
BX53-P显微镜可以使用6种不同的补偿器，能够测量多种水平延迟，范围从0到20λ。为使测量更容易，还提供了直接读数法。使用Senarmont*或Brace-Koehler补偿器可以获得更高的图像对比度，以改变整个视野里的延迟水平。
* 与绿色滤色片IF 546或IF 550。

正交镜和锥光镜成像中的锐利图像
使用U-CPA锥光镜观察附件后，正交偏光和锥光镜观察之间的切换简单而快捷。锥光镜成像的聚焦轻松而准确。勃氏透镜视场光阑的使用使其可以持续获取锐利而清晰的锥光图像。

坚固而精确的旋转载物台
旋转载物台安装的旋转对中装置能够顺畅地旋转标本。此外，为了实施精确测量，每隔45度就有一个咔哒停止装置。如果增加了双机械载物台，还可以进一步完成X-Y的微小移动。

技术规格