- 产地:
- 日本
- 型号:
- OLS5000
凭借对各种类型样品进行精确3D测量的能力,系统可提供用于质量保证和工艺控制的可靠数据。
卓越的横向分辨率
| 405纳米紫色激光和专用高数值孔径物镜可以捕捉到传统光学显微镜、白光干涉仪或红色激光显微镜难以发现的精细纹理和缺陷。 | |
|
| |
红光型(658纳米:0.26微米空间) | 微米紫光型(405纳米:0.12线和空间) | |
一致的测量值
LEXT专用物镜可精确测量采用其他方式测量会发生畸变的周边区域。

传统物镜

LEXT物镜

快速采集结果:高速扫描
该显微镜的扫描算法既可提高数据质量又可提高速度,从而缩短您的扫描时间,简化您的工作流程,zei终实现生产力的提升。
PEAK算法

VLSI标准80纳米高度样品(MPLFLN10XLEXT)
OLS5000显微镜采用了用于3D数据构建的PEAK算法。该算法可获得从低倍率到高倍率的高精度数据,并可缩短数据采集时间。
高效率工作:简单的操作程序
系统具有自动数据采集功能,因而无需进行复杂的设置调整。甚至普通用户也可以获得准确的检测结果。
灵活:可测量尺寸较大的样品
可测量zei高210毫米的样品
| OLS5000显微镜的扩展架可容纳高达210毫米的样品,而超长工作距离物镜能够测量深度达到25毫米的凹坑。 | ||
|
|
| |
连杆 | 刀具 | 活塞头 | |
OLS5000激光共聚焦显微镜由奥伟登光学科技(上海)有限公司 为您提供,如您想了解更多关于OLS5000激光共聚焦显微镜报价、参数等信息 ,欢迎来电或留言咨询。
















第1年


STM7测量显微镜
桌面荧光数字显微镜 APX100
OLYMPUS IX53显微镜
IXplore Live活细胞影像显微镜系统
IXplore SpinSR 超分辨显微镜系统
AL120半导体晶圆搬送及检测显微镜








鲁公网安备37021402001368号