马尔文帕纳科Malvern Panalytical XRD

测角仪：

优于±0.01°

角分辨率：

0.026°

最小步长：

0.0001°

X'Pert 平台在马尔文帕纳科 X 射线衍射系统的新型 X'Pert³ 系列中得以延用。X'Pert³ 平台具有新型机载控制电子装置，符合X 射线和运动安全规范，且具有环保和可靠性能，已准备好迎接未来的挑战。

马尔文帕纳科X射线衍射仪X'Pert³MRD其可靠性的增强及性能的改进提高了分析能力，提供一体化解决方案来满足不同需求和应用：
•半导体和单晶晶圆：倒易空间探索、摇摆曲线分析
•多晶固体和薄膜：织构分析、反射测量
•超薄薄膜、纳米材料和非晶层：掠入射物相鉴定、面内衍射
•非常温条件下的测量：随温度和时间变化的峰高

马尔文帕纳科X射线衍射仪X'Pert³ MRD 系列新增功能具体包括：

• CRISP*（包括无铅光管塔）确保入射光路组件的寿命更长
• 面向未来的单板计算机控制器，确保更好的连接性和更出色的远程支持

*CRISP 指的是耐腐蚀智能入射光路。CRISP 可防止入射光路中出现由 X 射线引起的电离空气造成的腐蚀。该技术使仪器运行更可靠，避免额外的维护工作。