高磁场霍尔效应实验仪面议
电磁铁型霍尔效应测试面议
WT-2000型少子寿命测￥100000.00/
DLS-83D型深能级瞬态￥50000.00/
塞贝克热电效应测试仪￥50000.00/
德国 Raith 电子束光￥800000.00/
￥210000.00/
￥230000.00/
面议
￥50000.00/
￥92000.00/
￥280000.00/
企业名片
少子寿命测量仪BCT-400
BCT-400测量系统不需要做表面钝化就能直接测量单晶和多晶硅（锭或块）的少子寿命.
因为少子寿命作为衡量生长和缺陷含量的的zui敏感的技术参数，这个工具直接获得长硅的质量参数。
作为zui易于使用的测量工具－－BLS，只需要有直径150mm大小的平面。如果只是测量平面样品的话，请选择BCT-400。
注：该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
￥800000.00/
￥800000.00/
￥50000.00/
￥800000.00/
面议
￥800000.00/
￥800000.00/
面议
￥100000.00/
面议
本网页所展示的有关【Sinton Instruments+BCT400+少子寿命测试仪】的图片/价格/参数等所有数据信息由会员【上海瞬渺光电技术有限公司 】或网友提供，由仪器仪表网会员【上海瞬渺光电技术有限公司 】或网友自行对图片/价格/参数等所有数据信息的真实性、准确性和合法性负责，本平台（本网站）仅提供展示服务，请谨慎交易，因交易而产生的法律关系及法律纠纷由您自行协商解决，本平台（本网站）对此不承担任何责任。您在本网页可以浏览【Sinton Instruments+BCT400+少子寿命测试仪】有关的信息/图片/价格等及提供 【Sinton Instruments+BCT400+少子寿命测试仪】的商家公司简介、联系方式等信息。
在您的合法权益受到侵害时，请您在相关信息上架展示七日内，致电400-803-5117转6666，我们将竭诚为您服务。否则，本网站视为您主动放弃相关权益，我们对此不承担任何责任。感谢您的关注与支持！
仪器仪表网www.yqybw.cn Copyright©2008- 2024,All Rights Reserved [青岛有家网信息科技]版权所有，未经书面授权，本网站任何内容不得以任何形式进行复制和传播
网站首页 | 仪器仪表网的价值 | 商机（询盘）查看提醒 | 使用指南 | 商机查看（免费会员） | 关于我们 | 联系方式 | 使用协议 | 版权隐私 | 法律声明 免责声明 | 网站地图 | 广告服务 | 网站留言 | 违规举报 | ICP备案序号:鲁ICP备18039788号-4 |
鲁公网安备37021402001368号 
第1年
CDE resmap 168 全自动四探针面扫描
光伏测试太阳模拟器
CDE resmap 178 四探针面扫描电阻率
CDE resmap 273 四探针面扫描电阻率
