扫描电迁移率粒径谱仪

型号：

SMPS+C+E

产地：

德国

扫描电迁移率粒径谱仪

SMPS+C和SMPS+E双系统

GRIMM SMPS+C系统采用传统的差分电迁移率粒径分级器（DMA）和凝聚核粒子计数器（CPC）技术结合，两种不同型号的DMA可以同时检测5—350纳米或10—1100纳米的气溶胶的粒径分布。根据应用不同，可以选配移动式：CPC 5403，实验室固定式：CPC 5416  或 19英寸标准机柜式：CPC 5421。 系统每次开机时，自动自检以确保系统准确性，自检内容包括泄露测试、DMA 型号确认、 DMA 电压测试、CPC 状态检查等。 自检通过后，软件自动控制采样、测量和数据记录。

测量参数 SMPS+C

1.       检测粒径范围：     5-350 纳米（M-DMA）；

                    10-1100 纳米(L-DMA)

2.       检测浓度范围：     0--10⁸ /cm³

3.       粒径通道：zui多255通道

4.       CPC   D₅₀粒径：       4 纳米

5.       CPC 响应时间：        4 秒

GRIMM SMPS+E系统采用差分电迁移率粒径分级器（DMA）和法拉第静电计（FCE）技术结合，配合3种不同的DMA，粒径检测下限可以低至1纳米，检测数量浓度高达10⁹个/cm³。

注：该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证，不可用于临床诊断或治疗等相关用途