布鲁克电镜专用原位纳米力学系统 PI 85L

型号：

PI 85L

产地：

美国

布鲁克Hysitron PI 85L是SEM专用的多用途、高灵敏度热学、电学和力学的测试系统，利用SEM的高分辨率，可以直接观测整个材料动态变化的过程。传统纳米压痕仪通过光学显微镜或原位扫描只能观察到压痕前及压痕后的形貌变化，中间过程无法观察到，载荷位移曲线上的一些突变我们无法解释，甚至单从曲线分析会导致错误的解释。

PI 85L安装于电镜，可以精确施加载荷，检测位移，在电镜下做压痕、拉伸、弯曲、压缩、加热、电学和划痕测试，可以借助电镜的高分辨率，观测并记录整个材料测试过程，观测材料在力下发生的动态变化，如金属蠕变、相变、断裂起始等。

PI 85L采用Hysitronzhuan利技术三板电容传感器，具备载荷和位移同时监测和驱动的独特功能。具备业界ling先的精度，重复性和低背景噪音等优点。PI 85L拥有多种特色测试功能模块可供选择，如动态力学测试、MEMS加热、拉伸测试、电学测试、纳米划痕等功能模块。

注：该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证，不可用于临床诊断或治疗等相关用途