禾苗heleex E3-Px射线荧光测厚仪

型号：

E3-P

产地：

广东

仪器规格：

● 外形尺寸：360 mm x 600mm x 385 mm （长x宽x高）

● 样品仓尺寸：360mm×400mm x160（长x宽x高，高度可定制）

● 仪器重量：50kg

● 供电电源：AC220V/ 50Hz

● zui大功率：330W

● 工作温度：15-30℃

● 相对湿度：≤85%，不结露

产品特点：

辐射保护

● 样品盖镶嵌铅板屏蔽X射线

● 辐射标志警示

●仪器经权威第三方检测，X射线剂量率完全符合GB18871-2002《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》

硬件技术

● X射线下照式，激光对焦可调样品仓，对于大件样品、异形不平整样品，无需拆分打磨，可直接测试

● 模块化准直器，根据分析元素，配备不同材质准直器，从而降低准直器对分析元素的影响，提高元素分辨率

● zui小光斑0.2mm，可针对各种样品中的小测试点精确定位，避免材质干扰，测量结果更准确

● 空气动力学设计，加速光管冷却，有效降低仪器内部温度；静音设计

● 电路系统符合EMC、FCC测试标准

软件技术（HeLeeX ED Workstation V3.0）

● 分析元素：Na~U之间元素

● 分析时间：90秒

● 界面简洁，模块化设计，功能清晰，易操作

● 数据一键备份，一键还原、一键清理功能，保护用户数据安全

● 根据不同基体样品，配备三种算法，增加样品测试精准度

● 配备开放式分析模型功能，客户可自行建立自己的工作模型。

应用领域：

● RoHS检测：Pb（铅）、Cd（镉）、Hg（汞）、Cr（铬）

● 卤素检测：Br（溴）、Cl（氯）

● 镀层测试：应对各种基材镀Au、Ag、Cu、Ni、Sn、Zn等

硬件配置：

探测器

● 类型：X123探测器（原装进口高性能电致冷半导体探测器）

● Be窗厚度：1mil

● 晶体面积：25mm2

● zui佳分辨率：145eV

● 信号处理系统：DP5

X射线管

● 电压：0-50v

● zui大电流;2mA

● zui大功率:50W

● 靶材：Mo

● Be窗厚度：0.2mm

● 使用寿命：大于2w小时

高压电源

● 输出电压：0-50Kv

● 灯丝电流0-2mA

● zui大功率：50w

● 纹波系数：0.1%（p-p值）

● 8小时稳定性：0.05%

摄像头

● 焦距：微焦距

● 驱动:免驱动

● 像素：500万像素

准直器、滤光片

● 系统：快拆卸准直器、滤光片系统

● 材质：多种材质准直器

● 光斑：光斑大小Φ0.2mm、Φ1.0mm、Φ2.0mm、Φ4.0mm可选

● 组合：多种滤光片（软件自动切换）、准直器组合

十字激光头

● 光斑形状：十字线

● 输出波长：红光650nm

● 光学透镜：玻璃透镜

● 尺寸：Φ10×30mm

● 发散角度：0.1-2mrad

● 工作电压：DC 5V

● 输出功率：<5mW

● 工作温度：－10～50℃

● 储存温度：－40～85℃

其它配件

● 开关电源：进口高性能开关电源

● 散热风扇：进口低噪声、大风量风扇

注：该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证，不可用于临床诊断或治疗等相关用途