禾苗镀层测厚仪器

型号：

3d

产地：

广东

E3是一款通用型能量色散型X射线荧光光谱仪（EDXRF)，专门用于镀层厚度检测；其核心部件采用美国进口，软件算法采用美国EDXRFqian沿技术，仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告；精密度、准确度、检出限等技术参数全面超过国内外同类仪器，特别针对大件异形不平整样品，无需拆分，直接测试即可达到精确的测试效果。

仪器规格：

● 外形尺寸：360 mm x 600mm x 385 mm （长x宽x高）

● 样品仓尺寸：360mm×400mm x160（长x宽x高，高度可定制）

● 仪器重量：50kg

● 供电电源：AC220V/ 50Hz

● zui大功率：330W

● 工作温度：15-30℃

● 相对湿度：≤85%，不结露

产品特点：

1.1全自动三维样品台

1.2 X射线向下照射式，激光对焦

1.3小光斑设计1.4测试时间灵活性调节

1.4测试时间灵活性调节

1.5多规格样品仓

1.6 X-Ray探测器

注：该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证，不可用于临床诊断或治疗等相关用途