彩色激光同轴位移计 面议
基恩士干涉式同轴 3D 面议
基恩士 WI-5000 干涉面议
分光干涉式位移计是一种测量物体位移的重要仪器。其基本原理是利用分光干涉技术,通过将测量光线分成两条,使其分别经过不同的光程,再把它们合并在一起,产生干涉条纹。
采用近红外 SLD，即使已贴附 BG 带也可测量晶片本身的厚度。即使晶片表面存在由于图案而产生的显著差异，也可实现准确的生产线上测量。
产品特性即使已贴附背面研磨带也可测量晶片厚度
大幅降低图案的影响
可在生产线上进行测量
自动映射整个晶片的厚度分布
精确的只测量晶片厚度本网页所展示的有关【基恩士 SI-F80R系列 分光干涉式晶片厚度计 大幅降低图案的影响】的图片/价格/参数等所有数据信息由会员【基恩士（中国）有限公司 】或网友提供，由仪器仪表网会员【基恩士（中国）有限公司 】或网友自行对图片/价格/参数等所有数据信息的真实性、准确性和合法性负责，本平台（本网站）仅提供展示服务，请谨慎交易，因交易而产生的法律关系及法律纠纷由您自行协商解决，本平台（本网站）对此不承担任何责任。您在本网页可以浏览【基恩士 SI-F80R系列 分光干涉式晶片厚度计 大幅降低图案的影响】有关的信息/图片/价格等及提供 【基恩士 SI-F80R系列 分光干涉式晶片厚度计 大幅降低图案的影响】的商家公司简介、联系方式等信息。
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