- 产地:
- 北京
- 型号:
- JW-TB系列
TB系列比表面积及孔径分析仪采用静态容量法气体吸附技术,可同步分析四个样品。其独有的Vtech技术确保测试高效稳定,BET比表面积重复性小于1%,并能实现0.35nm至500nm孔径的精确分析。仪器标配独立四站脱气系统,支持多吸附质,并具备实时监控与安全防护功能,广泛适用于电池材料、催化剂及吸附剂等多孔材料的物性表征。
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TB系列比表面积及孔径分析仪采用静态容量法气体吸附技术,可同步分析四个样品。其独有的Vtech技术确保测试高效稳定,BET比表面积重复性小于1%,并能实现0.35nm至500nm孔径的精确分析。仪器标配独立四站脱气系统,支持多吸附质,并具备实时监控与安全防护功能,广泛适用于电池材料、催化剂及吸附剂等多孔材料的物性表征。
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