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OmniFluo-FLIM显微荧光寿命成像系统集成了科研级正置显微镜、高精度平移台与时间相关单光子计数技术，实现16ps高时间分辨率与≤1μm空间分辨率的精准测量。系统支持多波长皮秒激光激发，配备全自动拟合软件，可快速获得样品的荧光寿命分布影像。其广泛应用于半导体材料缺陷分析、细胞代谢成像及钙钛矿电池研究，为科研与工业检测提供强大的微观寿命分析解决方案。
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