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OmniFluo990-Xray是一款集成X射线激发闪烁体性能测量的综合系统，支持稳态/瞬态光谱、荧光寿命、成像及光产额测试。其技术特点包括覆盖皮秒至纳秒的脉冲X射线激发、TCSPC/条纹相机寿命检测、以及高分辨率CMOS/TFT面阵成像。核心卖点在于提供从激发源、探测到数据分析的全套方案，并符合GBZ115-2023辐射安全国标，专为钙钛矿等新型闪烁体材料研发设计。
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