纳米级白光干涉三维形貌仪

产地：

深圳

型号：

SuperViewW系列

SuperView W1系列纳米级白光干涉三维形貌仪用数据、案例、服务三重保障，为精密制造、科研检测等领域提供高精度+高效率+高适配的3D表面测量解决方案。如需获取行业定制化方案、产品演示视频或免费样品测试，欢迎联系中图仪器。

一、核心功能

1.自动化测量：操纵杆便捷操控，Mark点自动定位校正，单/多区域一键扫描分析。

2.数据处理：去噪、滤波等四大模块+五大分析功能，支持定制化模板批量处理。

3.安全保障：双重镜头防撞+光源自动熄灯设计，设备损耗率降低40%。

4.灵活配置：10×干涉物镜（可选2.5×-100×），320×200mm载物台适配不同尺寸工件。

二、核心优势

1.精度硬核可量化：形貌重复性低至0.1nm，粗糙度RMS重复性0.005nm，台阶测量准确度仅0.3%，远超行业平均水平；搭配气浮隔振底座与0.1nm分辨率环境噪声评价，复杂车间环境也能稳定输出精准数据。

2.效率翻倍降成本：W1-Ultra型号0.1nm分辨率下扫描速度达8μm/s，单区域测量一键完成，批量样品可通过阵列式多区域测量+编程预设流程，实现“无需值守"自动化检测，某3C电子企业应用后，日均检测量从200件提升至500件。

3.全场景适配无压力：单一扫描模式覆盖超光滑到粗糙、全透明到黑色材质，支持10mm Z向扫描范围与数千张图像无缝拼接，某半导体厂商用其检测研磨减薄工件，成功解决“大范围扫描+高精度要求"双重难题。

4.软件生态强适配：自研Xtremevision Pro平台支持多机型自动识别，白光干涉与共聚焦模式自由切换，300+种ISO/ASME/EUR/GBT标准参数，满足不同行业检测合规要求。

三、应用案例

1.半导体制造：为某头部半导体企业提供研磨减薄工艺检测方案，精准测量硅晶片表面粗糙度（Sa=0.2nm）与槽道形貌，连续10次测量STR重复性稳定在0.1nm，助力工艺良率提升8%。

2.3C电子：适配手机玻璃屏粗糙度检测、金属壳模具瑕疵识别、油墨屏高度差测量，某手机代工厂应用后，批量检测效率提升60%，报表自动导出（Word/Excel/PDF）满足质检存档需求。

3.光学加工：针对纳米台阶、光学元件粗糙度测量，实现916.5nm台阶高度精准量化，某光学厂商反馈“测量数据与国际标准样块偏差＜0.1%"，大幅降低产品返工率。

4.汽车零部件：检测精密齿轮表面磨损、轴承孔隙间隙，在车间振动环境下仍保持数据稳定，某车企通过批量分析功能，将零部件质检周期从2小时缩短至30分钟。

恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

纳米级白光干涉三维形貌仪由深圳市中图仪器股份有限公司 为您提供，如您想了解更多关于纳米级白光干涉三维形貌仪报价、参数等信息 ，欢迎来电或留言咨询。