- 产地:
- 深圳
- 型号:
- SuperViewW系列
SuperView W1系列中图仪器白光干涉仪设备以高精度、高效率、高适配的核心优势,为精密制造、科研检测等领域提供一站式测量解决方案。如需获取产品演示视频、行业定制化方案或免费样品测试,欢迎随时联系。
(注:产品参数可能根据技术升级实时更新,具体以最新配置为准,详情可咨询客服获取完整资料。)

一、核心功能精简
1.自动化测量:操纵杆集成XYZ轴控制、速度调节等功能,Mark点自动定位校正,批量样品测量无需人工值守。
2.数据处理与分析:内置去噪、滤波等四大处理模块,涵盖粗糙度、几何轮廓等五大分析功能,支持定制化模板批量分析。
3.安全与稳定:双重镜头防撞保护+光源无人值守自动熄灯设计,降低设备损耗;气浮隔振底座隔绝地面振动,确保测量精度。
4.灵活配置:标配10×干涉物镜(可选2.5×-100×),320×200mm载物台适配不同尺寸工件,满足多样化检测需求。
二、重点行业应用
1.半导体制造及封装:精准测量硅晶片研磨减薄后的表面粗糙度、光刻槽道形貌,某头部半导体企业应用后,工艺良率提升8%,检测数据与国际标准样块偏差<0.1%。
2.3C电子:适配手机玻璃屏粗糙度检测、金属壳模具瑕疵识别、油墨屏高度差测量,批量检测无需重复调试,报表自动导出(Word/Excel/PDF),满足企业质检标准化需求。
3.光学加工:针对纳米台阶、光学元件表面粗糙度测量,实现916.5nm台阶高度精准量化,助力某光学厂商降低产品返工率12%。
4.汽车零部件与MEMS器件:检测精密齿轮磨损情况、轴承孔隙间隙,在复杂车间环境中保持数据稳定,某车企将零部件质检周期从1.5小时缩短至40分钟。

SuperView W1系列中图仪器白光干涉仪设备以亚纳米级测量精度、全场景适配能力与自动化高效操作,在精密制造、半导体、3C电子等领域一站式解决超精密测量精度不足、多材质适配难、批量检测效率低等测量难题。它以0.1nm级分辨率、8μm/s扫描速度、300+种标准参数,可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。
中图仪器白光干涉仪设备由深圳市中图仪器股份有限公司 为您提供,如您想了解更多关于中图仪器白光干涉仪设备报价、参数等信息 ,欢迎来电或留言咨询。




















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