TESCAN CLARA 超高分辨场发射扫描电镜 用于纳米材料的表征

产地：

捷克

型号：

TESCAN CLARA

扫描电子显微镜（SEM）是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品，通过光束与物质间的相互作用，来激发各种物理信息，对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。

TESCAN CLARA 是一款适用性非常广泛的扫描电子显微镜，能够满足各个科研和技术领域对不同材料进行高质量成像和表征的需求。TESCAN CLARA 使用了 TESCAN BrightBeam™ 型 SEM 镜筒，该镜筒配置了可变比例式静电-电磁复合物镜，可以在低加速电压下实现无漏磁超高分辨成像，这对于包括磁性样品在内的各类样品具有广泛的适用能力。

新一代镜筒内电子加速、减速技术，保证了复杂样品的低电压高分辨观测能力

首次配置的静电-电磁复合物镜，物镜无磁场外泄，实现磁性样品高分辨成像及分析

配置4个新一代探测器，可实现9种图像观测，对样品信息的采集更加全面

配置大型样品室，有超过20个扩展接口，为原位观测、分析创造了良好的工作环境

可以配置 TESCAN 自有或第三方的多种扩展分析附件，如EDS、EBSD、CL、EBL 以及实现与Raman联用

模块化 Essence™  软件，直观易用，不同技术水平的用户，均可轻松操作。

独特的探测器系统

独特的镜筒内探测器系统，可以根据能量和角度的不同选择信号进行采集，获得最全面的形貌和成分信息。Multidetector  探测器配有能量过滤器，可以实现二次电子信号和背散射电子信号的过滤以便增强材料衬度以及提高表面灵敏度，并能够实现二次电子和背散射电子信号之间的实时切换。第二个镜筒内探测器 — 轴向探测器（Axial detector），能以最大效率在任何着陆电压下收集二次电子和背散射电子信号，且不会有明显的信号损失，这样即使在低着陆电压下也能够非常简单的进行超高分辨二次电子成像。

TESCAN CLARA 使用了实时电子束追踪技术(In Flight Beam Tracing™)和中间镜技术(Intermediate Lens™)，可以广泛适用于各类分析研究。TESCAN CLARA 能够在高束流下（最大可达400 nA）仍然保持高分辨成像，这点对于日常分析工作而言非常便利。TESCAN CLARA 是一款真正的多功能分析仪器，适用于纳米材料的表征，高端制造业的严格质控，以及各类研发工作。

软件：

·         测量软件, 公差测量软件

·         图像处理

·         预设参数

·         直方图及LUT

·         SharkSEM™ 基础版 (远程控制)

·         3D 防碰撞模型软件

·         对象区域

·         光电联用

·          定时关机

·         CORAL™（用于生命科学的电镜模块）

·         自动拼图软件

·         样品观察

·         TESCAN Flow™ (离线处理软件)

根据实际配置和需求

TESCAN CLARA 超高分辨场发射扫描电镜 用于纳米材料的表征由TESCAN 泰思肯（中国） 为您提供，如您想了解更多关于TESCAN CLARA 超高分辨场发射扫描电镜 用于纳米材料的表征报价、参数等信息 ，欢迎来电或留言咨询。