ZEISS Sigma 300场发射扫描电子显微镜

型号：

Sigma 300

产地：

英国

Sigma 300

用于高品质成像与高级分析的场发射扫描电子显微镜

灵活的探测，4步工作流程，高级的分析性能

将高级的分析性能与场发射扫描技术相结合，利用成熟的 Gemini 电子光学元件。多种探测器可选：用于颗粒、表面或者纳米结构成像。Sigma 半自动的4步工作流程节省大量的时间：设置成像与分析步骤，提高效率。



Sigma 300 具有极高的性价比，可快速方便地实现基础分析。任何时间，任何样品均可获得精准可重复的分析结果。




基于成熟的 Gemini 技术

Gemini 镜头的设计结合考虑了电场与磁场对光学性能的影响，并将场对样品的影响降至更低。这使得即使对磁性样品成像也能获得出色的效果。


Gemini in-lens 的探测确保了信号探测的效率。


Gemini 电子束加速器技术确保了小的探测器尺寸和高的信噪比。




灵活的检测器选项，获取清晰图像

使用新颖的ETSE和Inlens探测器在高真空下获取高分辨率表面形貌信息。

使用VPSE或C2D检测器在可变压力模式下获得清晰图像。

使用aSTEM检测器生成高分辨率透射图像。

使用HDBSD或YAG检测器分析成分。




高级分析型显微镜

将扫描电子显微镜与基本分析相结合：Sigma 一流的背散射几何探测器大大提升了分析性能，特别是对电子束敏感的样品。

在一半的检测束流和两倍的速度条件下获取分析数据。

获益于8.5 mm 短的分析工作距离和35°夹角，获取完整且无阴影的分析结果。




蔡司Sigma 300 可提供

                                                                                                                                                                                             




集成式 EDS 解决方案

在低能量分析应用中同时实现高清晰度成像

Sigma Element 是一种集成式 EDS 解决方案，拥有高可用性和低电压灵敏度。仅需使用一台计算机来控制 EDS 和 SEM，进而大大提升了该集成化解决方案的易用性。同时，借助专门为显微镜和 EDS 操作设计的用户界面可实现并行控制。
? 集成化：通过集成化，结合高清晰成像与快速分析，从而获得不错结果
? 定制化：根据不同的用户需求定制软件
? 灵敏度：独特的氮化硅窗口增强低能X射线的探测灵敏度




拉曼成像与扫描电镜联用系统

完全集成化的拉曼成像

获取样品中化学结构的指纹信息：聚焦拉曼光谱成像可扩展您的蔡司Sigma 300 扫描电镜性能。 分析获得样品分子结构和结晶信息。 通过拉曼成像与EDS数据可进行3D 分析并与SEM图像关联。完全集成化的拉曼成像扫描电镜联用系统使你充分发挥SEM和拉曼系统的功能。




用户友好,操作简单

                                                               

SmartSEM Touch是现已有操作系统的附加组件，用于多用户环境，是一种简洁的用户界面。
它同时为操作经验丰富的专家用户和初级用户提供了简便的操作。
基于实际的实验室环境，SEM的操作可能是电子显微镜专家的专属领域。
但是，非专业用户（例如学生，接受培训不久的人员或质量工程师）也需要使用SEM获取数据，因此也有使用SEM的需求。 Sigma 300和Sigma 300 VP将非专业用户的需求考虑在内，其用户界面选项可满足操作经验丰富的显微镜专家和显微镜新手用户的操作需求。




注：该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证，不可用于临床诊断或治疗等相关用途