石英晶体微天平 Q-Sense E4

型号：

E4

仪器简介：

QCM-D技术的核心是石英晶体传感器，它由石英晶体夹在两片电极中间形成三明治结构。在电极两端加入一个交流电压，在传感器的共振频率处引发一个小的剪切振动，当交流电压关闭后，振动呈指数衰减，这个衰减被记录下来，得到共振频率(f)和耗散因子(D)两个参数。

对于薄层硬质薄膜，可以使用Sauerbrey关系和公式，根据传感器振动计算吸附层的质量。当沉积的薄膜松散和粘性时，能量通过薄膜上的摩擦被消耗，传感器的振动发生衰减，耗散因子提供了传感器上吸附的薄膜的结构信息。通过使用多个频率和耗散因子数据，使用粘弹性模型而非Sauerbrey关系，我们可以计算得到质量、厚度、粘度和弹性。

技术参数：
 

传感器和样品处理系统的技术参数如下：

1、传感器晶体: 5MHz，直径14mm，抛光，金电极

2、传感器数量: 4个，也可使用1、2或3个

3、传感器上方体积: 40ul，采用5MHz晶体，Q-Sense流动模块

4、zei小样品体积: 200ul

5、工作温度: 15-65°C(可选项:4-150°C)，由软件控制; 控温精度为：0.02°C

6、流动速率: 0-1 ml/min

7、清洁处理: 所有与液体接触元件均可拆卸，并可在超声波浴中清洗

主要特点：
 

E4作为Q-Sense公司具有耗散因子检测功能的第二代石英晶体微量天平，可以对多种不同类型表面的分子相互作用和分子吸附进行研究，应用范围包括蛋白质、脂质、聚电解质、高分子和细胞/细菌等与表面或与已吸附分子层之间的相互作用。

E4可以测定非常薄层的吸附层的质量，并同步提供如粘弹性等结构信息。它基于QCM-D专利技术，非常灵敏和快速，可提供多个频率和耗散因子数据，用于充分了解在传感器表面吸附的分子的状态。

*****************测试范围及优势****************

1、质量测定：测试表面形成的分子层的质量，精度达到毫微克。例如，可检测到1%或更低浓度蛋白质单分子层的结构变化

2、结构变化：同步测试结构变化，因此可以区分两个相似的键合反应或观察到吸附层上发生的相转变

3、实时分析：可以进行实时记录和动力学评估

4、无须标记：无须对分子做标记，仪器测定的是分子本身

5、柔性的表面选择：适用于任何能形成薄膜的表面如金属、高分子、化学改性表面等

6、流量测试：特别设计的样品池可以在控温环境下进行流量测定

具体应用领域如下*******************

（1）生物材料表面分析
（2）生物传感器的研究
（3）蛋白质的相互作用
（4）膜表面的吸附/解析
（5）生物膜表面DNA的杂交
（6）酶的降解
（7）聚电解质单/多层膜的研究
（8）细胞在不同表面的吸附
（9）靶向药物的研究
（10）催化、腐蚀等研究
（11）高分子溶涨、结构改变、等特性的研究
（12）高分子材料的生物相容性等

公司网站：http://www.q-sense.com

中国官网：http://www.instrument.com.cn/netshow/SH101902/

石英晶体微天平 Q-Sense E4由瑞典百欧林科技有限公司 为您提供，如您想了解更多关于石英晶体微天平 Q-Sense E4报价、参数等信息 ，欢迎来电或留言咨询。