欢迎来到仪器仪表网,请记住我:yqybw.cn 【仪器仪表网】拼音首字母

DektakXT探针式表面轮廓仪

供应总量
0
最小起订
0
品牌名称
布鲁克
厂家区域
北京
发货期限:
自买家付款之日起 天内发货
好货推荐

Anasys nanoIR2-FS 快

面议

布鲁克UMT-TriboLab机

面议

布鲁克ContourGT-I 三

面议

ContourGT-X 三维光学

面议

Bruker第八代多功能扫

面议

Dimension FastScan原

面议

店铺信息

所在地区:北京

身份认证:

已  缴 纳:0.00 元保证金

我的勋章: [诚信档案]

在线客服:

企业名片

布鲁克电子显微纳米分析仪器部

  • 联系人:未填写(先生) 
  • 联系方式:4008035117,16619786869

  • 地址:未填写
手机店铺
}
【温馨提示】来电请说明在仪器仪表网看到我们的,谢谢
产品详情
产地:
美国
型号:
DektakXT

      布鲁克 DektakXT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项创新性的设计,可以提供更高的重复性和分辨率,测量重复性可以达到5Å。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年 Dektak技术创新的顶峰,更加巩固了其行业领先地位。不论应用于研发还是产品测量,通过在研究工作中的广泛使用,DektakXT一定能够做到功能更强大,操作更简易,检测过程和数据采集更完善。第十代DektakXT台阶仪(探针式表面轮廓仪)的技术突破,使纳米尺度的表面轮廓测量成为可能,从而可以广泛的应用于微电子器件,半导体,电池,高亮度发光二极管的研发以及材料科学领域。

      DektakXT完美设计

      探针系统的评价体系受三个因素影响:能否重复测量,数据采集和分析速度快慢,操作的难易程度。这些因素直接影响了数据的质量和操作效率。DektakXT利用全新结构和和zei佳软件来实现可重复、时间短、易操作这三个必要因素,达到zei佳的仪器使用效果。

      强化操作的可重复性 Delivering Repeatable Measurements

      DektakXT 在设计上的几个提高,使其在测量台阶高度重复性方面具有优异的表现,台阶高度重复性可以到达5Å.使用single-arch结构比原先的悬臂梁设计更坚硬持久不易弯曲损坏,而且降低了周围环境中声音和震动噪音对测量信号的影响。同时,Bruker还对仪器的智能化电子器件进行完善,提高其稳定性,降低温度变化对它的影响,并采用先进的数据处理器。在控制器电路中使用这些灵敏的电子元器件,会把可能引起误差的噪音降到zei低,DektakXT的系统因此可以更稳定可靠的实现对高度小于10nm的台阶的扫描。Single-arch结构和智能器件的联用,大大降低了扫描台的噪音,增强了稳定性,使其成为一个极具竞争力的台阶仪(表面轮廓仪)。

      提高数据采集和分析速度 SpeedingUpCollectionand Analysis

      利用独特的直接扫描平台,DektakXT通过减少从得到原始数据到扣除背底噪音所需要的时间,来提高扫描效率。这一改进,大大提高了大范围扫描3D形貌或者对于表面应力长程扫描的扫描速度。在保证质量和重复性的前提下,可以将数据采集处理的速度提高40%。另外,DektakXT采用Bruker 64-Bit数据采集分析同步操作系统Vision64,它可以提高大范围3D形貌图的高数据量处理速度,并且可以加快滤波器的工作速度和多模式扫描时的数据分析处理效率。Vision64还具有zei有效直观的用户界面,简化了实验操作设置,可以自动完成多扫描模式,使很多枯燥繁复的实验操作变得更快速简洁。

      完善的操作和分析系统 PerfectingOperationand Analysis

      与 DektakXT的创新性设计相得益彰的配置是Bruker的Vision64操作分析软件。Vision64提供了操作上zei实用简洁的用户界面,具备智能结构,可视化的使用流程,以及各种参数的自助设定以满足用户的各种使用要求,快速简便的实现各种类型数据的采集和分析。

      DektakXT 技术参数

台阶高度重复性5Å

Single-arch设计大大提高了扫描稳定性

前置敏化器件,降低了噪音对测量的干扰

新的硬件配置使数据采集能力提高了40%

64-bit,这一Vision64同步数据处理软件,使数据分析速度提高了十倍。

      功能卓越,操作简易

直观的Vision64用户界面操作流程简便易行

针尖自动校准系统让用户更换针尖不再是难事

      台阶仪(表面轮廓仪)领域无可撼动的世界领先地位

布鲁克的台阶仪,体积轻巧,功能强大。

单传感器设计提供了单一平面上低作用力和宽扫描范围



布鲁克纳米表面仪器部开通优酷视频专辑
Bruker Nano Surfaces YouKu Channel — 欢迎订阅优酷上Bruker Nano Surfaces的相关视频,观看zei新的AFM产品和相关技术进展,以及历届网络研讨会和培训资料,精彩内容持续更新中!



DektakXT探针式表面轮廓仪

布鲁克DektakXT探针轮廓仪通过革新设计单拱龙门式设计使系统更稳定使其较前代产品在扫描速度上提高40%,与此同时实现测量重复性达到无与伦比的5埃以下(<5Å)的业内zei高水平。这一里程碑式的产品源自于Dektak系列占据业界领先地位长达四十年的优异表面测量技术。保持业界一贯的领先优势,通过采用独特的单拱龙门设计和“智能化电子器件”,使其达到无可匹敌的测量性能和重复性。首次采用的高清真彩相机提高了图像分辨率,而64位数据并行处理软件则加速了分析速度,使用户易于使用。DektakXT所具备的卓越性能和高效率使用户在材料研究和产品质量监控方面保持领先。所有这些技术上的巨大突破使得这一第十代Dektak产品可用于纳米级薄膜,台阶和表面的测量,在微电子、半导体、太阳能、高亮度LED、触摸屏、医疗、科学研究和材料科学领域大显身手。



DektakXT探针式表面轮廓仪由布鲁克电子显微纳米分析仪器部 为您提供,如您想了解更多关于DektakXT探针式表面轮廓仪报价、参数等信息 ,欢迎来电或留言咨询。

"DektakXT探针式表面轮廓仪"相关资源
相关类目
离心管 垃圾袋 过滤瓶/过滤器 防护眼镜 色谱柱 其他配件耗材
相关商机
Bruker双焦面3D实时超高分辨系统Vutura Bruker多功能双光子成像平台2pplus Bruker场扫描共聚焦成像系统Opterra II 布鲁克BioScope Resolve生物型原子力显微镜 Bruker第八代多功能扫描探针显微镜 Anasys afm+ 原子力显微镜 布鲁克Contour Elite 三维光学显微镜 布鲁克ContourGT-I 三维光学显微镜 ContourGT–InMotion三维光学显微镜 UMT系列多功能材料力学测试系统 布鲁克PI 95透射电镜专用原位纳米力学系统 布鲁克PI 88电镜专用原位纳米力学测试系统 布鲁克 PI 85L电镜专用原位纳米力学系统 布鲁克TI 980 高精度纳米力学测试系统 布鲁克NanoForce纳米机械性能测试系统
企点客服www企点营销 企点客服www企点营销
免责声明

本网页所展示的有关【DektakXT探针式表面轮廓仪】的图片/价格/参数等所有数据信息由会员【布鲁克电子显微纳米分析仪器部 】或网友提供,由仪器仪表网会员【布鲁克电子显微纳米分析仪器部 】或网友自行对图片/价格/参数等所有数据信息的真实性、准确性和合法性负责,本平台(本网站)仅提供展示服务,请谨慎交易,因交易而产生的法律关系及法律纠纷由您自行协商解决,本平台(本网站)对此不承担任何责任。您在本网页可以浏览【DektakXT探针式表面轮廓仪】有关的信息/图片/价格等及提供 【DektakXT探针式表面轮廓仪】的商家公司简介、联系方式等信息。

在您的合法权益受到侵害时,请您在相关信息上架展示七日内,致电400-803-5117,我们将竭诚为您服务。否则,本网站视为您主动放弃相关权益,我们对此不承担任何责任。感谢您的关注与支持!