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QUANTAX EBSD 系统加上广受欢迎的 OPTIMUS TKD 探测器，是分析 SEM 中纳米材料的理想化解决方案。原因如下：
提供 1.5 nm 的空间分辨率
在不影响速度和/或数据质量的情况下以低测试电流进行测试
在使用浸入式透镜模式的超高分辨 SEM 下工作的仅有的 TKD 解决方案
全自动内置 ARGUS 成像系统
水平式磷屏设计的SEM透射菊池衍射（同轴TKD）技术由布鲁克X射线产品、电子显微镜分析仪器（Bruker AXS） 为您提供，如您想了解更多关于水平式磷屏设计的SEM透射菊池衍射（同轴TKD）技术报价、参数等信息 ，欢迎来电或留言咨询。
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