第1年
日本电子JMS-MT3010HRGA INFITOF 飞
120KV 透射电子显微镜
日本电子JEM-ACE200F 高效分析型电
日本电子JEM-1400 Plus 120kV高衬度
日本电子JEM-F200新概念冷场发射透
日本电子JEM-3200FS 场发射透射电子
日本电子JEM-ARM200F NEOARM 原子分
日本电子JSM-7610F超高分辨热场发射
日本电子JXA-iHP200F 场发射电子探
日本电子JMS-S3000 基质辅助激光解
- 产地：
- 日本
- 型号：
- JSX-1000S
操作简便
只需安装样品，和触摸屏幕。触摸操作还可以进行分析结果与谱图的显示切换，操作快感如同使用平板电脑和智能手机一般（利用键盘、鼠标也能操作）。
安装 ＆ 触摸 操作简单
GUI界面简明易懂，操作直观。
高灵敏度&高通量
JEOL 新开发的SDD( 硅漂移检测器) 和新设计的光学系统及可以支持整个能量范围的滤波器使高灵敏度的分析成为可能。安装样品室真空排气单元( 选配项) 对轻元素可以提高检测灵敏度
整个能量范围内的高灵敏度分析
使用滤波器（最多9种*） 和样品室真空排气单元能够在整个能量范围内进行高灵敏度的分析。
* Cl、Cu、Mo、Sb 为选配项
微量元素检测实例（10ppm以下）
提供解决方案
解决方案应用软件能根据预先登录的菜谱自动执行所希望的测试分析。
只需从解决方案应用软件的列表中选择目标解决方案的图标，就能轻松获得分析结果，可为各种行业提供简化的分析。
新开发的智能FP（基本参数法）法，不需要准备标样，并且能自动进行残留成分和厚度的校正， 获得高度准确的定量结果。
（残留成分和厚度校正功能只支持有机物样品）
（mass%）
厚度 | 校正 | Cr | Zn | Cd | Pb | 自动平衡 |
0.5mm | 无 | 0.008 | 0.037 | 0.001 | 0.002 | 99.76 |
3.8mm | 0.012 | 0.109 | 0.004 | 0.006 | 99.64 | |
0.5mm | 有 | 0.011 | 0.137 | 0.015 | 0.010 | 99.54 |
3.8mm | 0.011 | 0.134 | 0.016 | 0.011 | 99.55 | |
标准值 | 0.010 | 0.125 | 0.014 | 0.010 | ||
产品规格
FIB
检测元素范围
X射线发生装置
靶材
一次滤波器 最多9种 自动交换
准直器3种 自动交换
检测器
样品室尺寸
样品室气氛
样品室观察机构
操作用电脑
分析软件（标准）
分析软件（选配）
日常检查软件（标准）
Mg～U |
F～U（选配） |
5～50 kV , 1mA |
Rh |
标准：OPEN, ND, Cr, Pb, Cd |
选配：Cl, Cu, Mo, Sb |
0.9mm, 2mm, 9mm |
硅漂移检测器（SDD） |
300mmφ×80mmH |
大气 / 真空(选配） |
彩色摄像机 |
Windows ® 触控屏 台式电脑 |
定性分析（自动定性、KLM标记、和峰显示、谱图检索） |
薄膜FP法分析软件 |
管球升压、能量校正、强度校正 |
Windows ® 为美国微软公司在美国或其它国家的注册商标或商标。
主要附件
样品室真空排气单元
多样品自动交换单元
滤波器组
滤膜FP 法分析软件
薄膜FP 法分析软件
和峰消除软件
镍镀层筛选解决方案
锡镀层筛选解决方案
氯元素筛选解决方案
JSX-1000S型X射线荧光光谱仪采用触控屏操作、提供更加简便迅速的元素分析。具备常规定性、定量分析（FP法・检量线法）、RoHS元素筛选功能等。利用丰富的硬件/软件选配件、还能进行更广泛的分析。
日本电子JSX-1000S能量色散荧光元素分析仪 操作简便由日本电子株式会社(JEOL) 为您提供，如您想了解更多关于日本电子JSX-1000S能量色散荧光元素分析仪 操作简便报价、参数等信息 ，欢迎来电或留言咨询。
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