X射线残余应力分析仪

型号：

TK--306

产地：

北京

X射线残余应力分析仪

主要技术参数:

 采用瑞士DECTRIS公司的线阵MYTHEN2 R探测器。速度快，线性好。

  ★测量方法：侧倾固定ψ法，摆动法，残奥测定，织构测定。
  定峰方法：交相关法，半高宽法，抛物线法，重心法。
  仪器精度：采用还原铁粉作为标准试样。 使用Cr靶Kα辐射，铁粉（211）晶面，衍射角2θ测定误差 在±0.015°以内；铁粉应力测量值应稳定达到在±10MPa以内。
  ★测角仪型式：θ-θ扫描ψ测角仪
  ★２θ扫描范围：120°～170°；
  ２θ扫描***小步距：0.01°
  ２θ扫描每步计数时间：0.1S～20S
  ψ角范围：0°～  65°
  ψ角摆动角度：0°～±6°
  X射线管电压：15～30kV,连续可调
  X射线管电流：3～10mA,连续可调
  X射线管靶材：Cr, Co, Cu, 其中Cr靶为常备，其余供选购。
  衍射几何：聚焦法
 准直管直径：提供产生直径分别为?1、? 1.5、? 3、? 4.5、? 6mm X光斑的准直管。
  测角仪重量：10 kg
  简装置总重量：45 kg
  供电要求：AC 220V±10%，1000W，50Hz

注：该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证，不可用于临床诊断或治疗等相关用途

售后服务承诺

免费上门安装：是

保修期：2年

是否可延长保修期：是

保内维修承诺：2年免费维修，终生维护

报修承诺：24小时赶到现场

免费仪器保养：6个月一次

免费培训：免费培训一次，限定5人内

现场技术咨询：有