第1年
日本电子JSM-IT200 InTouchScope™
日本电子JSM-IT700HR 触摸屏控制热
日本电子JASM-6200大气压扫描电镜
日本电子JSM-IT700HR 触摸屏控制热
日本电子IB-19530CP截面样品制备装
日本电子JMS-S3000 基质辅助激光解
日本电子JMS-Q1600GC UltraQuad™ S
日本电子JNM-ECZS 系列 核磁共振谱
日本电子JMS-700 MStation高性能双
日本电子BS-80011BPG产生高密度内置
- 产地：
- 日本
- 型号：
- JEM-3200FS
JEM-3200FS 场发射透射电子显微镜
JEM-3200FS场发射电子显微镜配备了zei高加速电压为300kV的场发射电子枪（FEG）和镜筒内置式Ω型能量过滤器，能为广泛的研究领域提供各种全新的解决方案。
产品特点：
EM-3200FS场发射电子显微镜配备了zei高加速电压为300kV的场发射电子枪（FEG）和镜筒内置式Ω型能量过滤器，能为广泛的研究领域提供各种全新的解决方案。
镜筒内置式Ω型能量过滤器(omega 过滤器)
镜筒内置式Ω型能量过滤器内置于成像透镜系统，能容易地获得能量过滤像和能量损失谱，同时还能获得与传统电子显微镜同等的放大倍率范围。此外、Ω型过滤器的电子光学系统在设计上zei大程度地减少了图像畸变，出厂前还将剩余一点的畸变做了zei后的修正。JEM-3200FS还采用了高灵敏度的相机系统及图像处理系统（选配件），可以构建元素面分布系统及能量损失谱系统。
新型控制系统
电子枪、电子光学系统、测角台、抽真空系统等电子显微镜基本功能的系统化，实现了高稳定、高性能的控制系统。图像画面和用户界面采用Windows ®*1，可以进行编程操作和附件的集中控制。
新型测角台
系统化的新型测角台内置压电陶瓷驱动机构，使高倍率下的样品移动更加精确。*2.
*1 : 注意事项：Windows是微软公司在美国和其他国家的注册商标。
*2 : 仅有压电元件包括在基本单元中，压电元件的电源为选配件。
产品规格：
| 物镜极靴*1 | 超高分辨UHR | 高分辨率HR | 高倾斜HT | 高衬度HC |
| 分辨率 | ||||
| 点分辨率 晶格分辨率 | 0.17nm 0.1nm | 0.19nm 0.1nm | 0.21nm 0.1nm | 0.26nm 0.14nm |
| 能量分辨率 | 0.9 eV（零损失FWHM） | |||
| 加速电压 | 300kV，200kV,100kV*2 | |||
| zei小步长 能量位移 | 100V zei大3,000V (以0.2V为步长) | |||
| 电子枪 | ||||
| 发射体 | ZrO/W(100) 肖特基式 | |||
| 亮度 | ≧7×108 A/cm2 ・ sr | |||
| 真空度 | 3×10-8Pa | |||
| 探针电流 | 探针直径为1nm时，电流在0.5nA以上 | |||
| 稳定度 | ||||
| 加速电压 | 2×10-6/min | |||
| 物镜电流 | 1×10-6/min | |||
| 过滤器透镜电流 | 1×10-6/min | |||
| 物镜 | ||||
| 焦距 | 2.7 mm | 3.0 mm | 3.5 mm | 3.9 mm |
| 球差系数 | 0.6 mm | 1.1 mm | 1.4 mm | 3.2 mm |
| 色差系数 | 1.5 mm | 1.8 mm | 2.2 mm | 3.0 mm |
| zei小焦距步长 | 1.0 nm | 1.4 nm | 1.5 nm | 4.1 nm |
| 束斑尺寸 | ||||
| TEM 模式 | 2 ～ 5 nmφ | 2 ～ 5 nmφ | 7 ～ 30 nmφ | |
| EDS 模式 | 0.4 ～ 1.6 nmφ | 0.5 ～ 2.4 nmφ | 4 ～ 20 nmφ | |
| NBD 模式 | 0.4 ～ 1.6 nmφ | 0.5 ～ 2.4 nmφ | - | |
| CBD 模式 | 0.4 ～ 1.6 nmφ | 0.5 ～ 2.4 nmφ | - | |
| 电子束衍射 | ||||
| 衍射角(2α) | 1.5 t～ 20 mrad | - | ||
| 取出角 | ±10 ° | - | ||
| 倍率 | ||||
| MAG 模式 | ×2,500 ～ 1,500,000 | ×2,000 ～ 1,200,000 | ×1,500 ～ 1,200,000 | |
| LOW MAG 模式 | ×100 ～ 3,000 | |||
| SA MAG 模式 | ×8,000 ～ 600,000 | ×6,000 ～ 500,000 | ×5,000 ～ 500,000 | |
| 视野 | 10eV时狭缝宽度60mm(底片上) 2eV时狭缝宽度25mm(底片上) | |||
| 相机长度 | ||||
| 选区电子衍射 | 200 ～ 2,000 mm | 250 ～ 2,500 mm | 400 ～ 3,000 mm | |
| EELS 散射 | ||||
| 能量选择 在能量选择狭缝上 | 0.85 μm/eV , 300 kV | |||
| 底片上 | 100 ～ 220 μm/eV , 300kV | |||
| 样品室 | ||||
| 样品移动范围 (XY/Z) | 2mm/0.2mm | 2mm/0.4mm | 2mm/0.4mm | 2mm/0.4mm |
| 样品倾斜角 (X/Y) | ±25°/±25°*3 | ±35°/±30°*3 | ±42°/±30°*3 | ±38°/±30°*3 |
| EDS*4 | ||||
| 固体角 | 0.13 sr | 0.09 sr | ||
| 取出角 | 25° | 20° | ||
日本电子JEM-3200FS 场发射透射电子显微镜由日本电子株式会社(JEOL) 为您提供，如您想了解更多关于日本电子JEM-3200FS 场发射透射电子显微镜报价、参数等信息 ，欢迎来电或留言咨询。
鲁公网安备37021402001368号